OnPoint BSE 探测器

一款适用于 SEM 的高速低电压成像背散射电子探测器。

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优点: 

OnPoint™ 探测器代表了背散射电子 (backscattered electron, BSE) 探测性能的新标准,具有上佳的灵敏度和采集效率,可以更好地对聚合物、塑料和生物材料等非导电样品进行表征。利用其优异的低电压探测能力,本系统将您的研究能力扩展至非镀膜的生物样品、低原子序数 (Z) 元素表征、以及大规模 3D 数据采集等领域。  

  • 解决了荷电或电子束损伤造成的成像畸变:在低电压下采集影像,以降低电荷积聚,避免对敏感样品的损伤
  • 迅速采集大规模、3D 数据集:以之前六倍的速度获取大视野影像或 3D 数据集
  • 区分低原子序数的元素:利用非常高的信噪比 (signal-to-noise ratio, SNR) 帮助鉴别原子序数接近的元素
  • 提供非常高的 BSE 收集效率:生成较高的信噪比影像,因为它不仅搜集了其它探测器所遗漏的电子,还同时使探测系统的噪音最小化
  • 简单设置即可达到性能的峰值:无需上门服务,您就可以将系统维持在最佳性能状态

资源:

 

技术规格

OnPoint BSE 探测器

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