Ilion II 系统

采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品。

优点 研究热点 媒体库 出版物 资源 回到顶部
优点: 
  • 利用样品交换室和液氮冷却载物台,为电子束敏感样品定制了快速工作流程
  • 对抛光过程进行实时观察,期间使用了带数字成像功能的光学显微镜。可利用 Gatan 的 DigitalMicrograph® 软件存储和分析图像
  • 10 英寸彩色触摸屏界面显示 Ilion™ II 配方,确保操作中得到可重复的结果
  • 极其适用制备阴极发光和 EBSD 等分析技术的无损表面,因为这些分析信号在样品的极表面产生

Publications

Optics & Laser Technology
2016

de Pablos-Martin, A.; Benndorf, G.; Tismer, S.; Mittag, M.; Cismak, A.; Lorenz, M.; Grundmann, M.; Höche, T.

Journal of Physical Chemistry Letters
2014

Ng, A.; Poplawsky, J. D.; Li, C.; Pennycook, S. J.; Rosenthal, S. J.

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