高级 STEM 探测器

针对电子能量损失谱 (EELS) 的采集优化了的 STEM 高角度环形暗场 (HAADF)、环形暗场 (ADF) 以及明场和暗场 (BF/DF) 探测器。

优点 研究热点 媒体库 出版物 资源 回到顶部
优点: 

对于 EELS SI 数据的采集和利用扫描透射模式 (STEM)的面分布分析,适当控制探测器接受角度对数据的收集效率及其解释至关重要。高级 STEM 探测器经过优化,与 EELS 系统完美配合,可在整个角度范围对散射电子无缝收集,从而增进对每个样品的化学和成分信息的了解。

  • 针对 EELS、衍射衬度 STEM像 和 HAADF STEM像的采集进行了优化的探测器,实现电子收集的最大化
    • 向前散射电子 — EELS 信号(0 到 β)、收集角 β受 STEM 照相机长度控制
    • 中等散射角度电子 — 高级 BF/DF STEM 探测器(~β 到 2x β)
    • 高角散射电子 — HAADF 探测器(~2x β 到 7x β)
  • 经校准的探测器和系统增益,以便进行强度的绝对值测量
  • 基于低噪声电路和闪烁体/光电倍增管的 (PMT) 的设计
    • 在低束流下探测单电子
    • 在常用束流条件下可记录高信噪比的图像
  • 利用自动 PMT 增益选择实时优化图像对比度
  • 计算机控制的探测器增益,便于进行远程操作
  • 一键即可从暗场切换到明场 STEM 模式(807 型)
  • 与 GIF Quantum® 和 Enfinium™ EELS 系统完美集成
  • 与 Gatan 照相机和 DigiScan™ II 系统相兼容,实现对现有 STEM 设备的升级

Publications

Journal of the American Ceramic Society
2016

Cianchetta, I.; Trentelman, K.; Walton, M. S.; Maish, J.; Mehta, A,; Foran, B.

Materials Letters
2015

Majchrowski, A.; Ebothé, J.; Michel, J.; Chrunik, M.; Jaroszewicz, L. R.; Kulwas, D.

Materials Science and Engineering: A
2014

Eftink, B. P.; Mara, N. A.; Kingstedt, O. T.; Safarik, D. J.; Lambros, J.; Robertson, I. M.

回到顶部