Enfinium 能量损失谱仪

专用、稳定的电子能量损失谱仪

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优点: 

Enfinium™ 能量损失谱仪集成了 GIF Quantum® 能量过滤器的能量损失谱功能。GIF Quantum 能量过滤器采用全新设计,将基于十二极的先进电子光学器件与高速 CCD 照相机系统相结合,得到了采集电子能量损失谱 (EELS) 和能量过滤像(EFTEM)的能力,Quantum系列能量过滤器具有最高的数据通量。

Enfinium 能量损失谱仪具有 GIF Quantum 过滤器的高级 EELS 功能,但Enfinium不具有EFTEM 功能因此不增加额外的费用。这两个型号均具有基本的 EELS 功能。  

  • 通过静电快门,凭借前所未有的曝光控制和动态范围
  • 用于以 1000 光谱/秒的速度采集细节丰富的面分布,高速、充分利用剂量的光谱成像
  • 使用 3 mm 固定入口光阑,简化了对大多数应用的操作
  • 使用 2.5 和 5 mm 入口光阑,提高了像差校正 STEM EELS 的数据采集效率
  • 适用于 60 – 300 kV 操作
  • 可在单一光谱内获得更大的能量采集范围
  • 使用 DualEELS™ 功能进行新级别的 EELS 分析,例如测量精确的化学位移(chemical shift)
  • 借助基于十二极的光学器件获得出色能量分辨率

Enfinium SE — 简化操作和适用于大多数基本 EELS 实验的谱仪系统,提供了 3 mm 的固定 EELS 光阑,基础软件包可在进行光谱分析时提供 100 光谱/秒的采集速率。

Enfinium ER将 GIF Quantum ER 过滤器的高级功能分离到一台专用的高性能谱仪系统上。系统标配有 2.5 mm 和 5 mm 入口光阑、静电快门和 US1000XP/FT 相机系统的高级光谱模式。

Enfinium 专用 EELS 系统 

 

  Enfinum SE

   Enfinum ER

静电快门 选配  
1000 光谱/秒 选配  
固定的 3 mm 入口光阑  
2.5 和 5 mm 入口光阑  
60 – 300 kV 操作
2000 eV EELS 范围  
DualEELS 功能 选配 选配
基于十二极的光学器件
注意:系统性能取决于具体的仪器配置,包括 TEM 的性能。所列功能和规格包括选配设备和软件包。并非所有 Enfinium 型号均支持所有功能和规格。有关详情,请参见各产品数据表。规格和功能可能会随时发生变化。
 

Publications

Scientific Reports
2015

Ringe, E.; DeSantis, C. J.; Collins, S. M.; Duchamp, M.; Dunin-Borkowski, R. E.; Skrabalak, S. E.; Midgley, P. A.

Ultramicroscopy
2014

Forbes, B. D.; Houben, L.; Mayer, J.; Dunin-Borkowski, R. E.; Allen, L. J.

Radiation Physics and Chemistry
2014

Degueldre, C.; Alekseev, E.

资源:

 

976、977 型

产品说明书

Enfinium ER 系统
Enfinium SE 系统

应用

EELS.info
EELS 应用程序

使用 DualEELS 模式中高能量边进行原子级 EELS 分析
在 DualEELS 模式下对金属合金进行高速 EELS 成分分析,以制造 III-V MOSFET 设备
EELS:用于研究生物材料的工具
使用 GIF Quantum 研究重金属 Au 和 Pd 的催化剂颗粒,高速的同时采集 EELS 的 high-loss和 low-loss部分区域
使用 Gatan Microscopy Suite 软件中的同步 EELS 和 EDS,实现快速 STEM 光谱成像
回顾光谱成像领域的最新进展及其向倒易空间领域的延伸
使用 MLLS 拟合方法解析原子级 EELS 谱图中的信号重叠

海报

对基于 Pd-Au 的催化剂的快速 STEM EELS 谱图成像分析
以 DualEELS 模式进行高原子序数合金的高速成分分析
使用 DualEELS 模式中高能量边缘的快速原子级 EELS 面分布分析

配置

功能
(在 200 kV 条件下报告)
  Enfinium SE   Enfinium ER
能量分辨率* (eV FWHM) 0.40 0.10
光圈尺寸 (mm) 3.0 2.5 / 5
能量视野 (eV) 1000 2000
光谱率 (1/s) 100 >1000
快速光谱模式 选配
1 µs 静电快门 选配
高级 BF/DF 探测器 选配 选配
*总系统能量分辨率的分光计影响.不包含电子源或环境影响。最终系统分辨率通常为所有影响的积之和。例如,将 sFEG TEM 系统配置为 0.8 eV 源且无环境噪声,则预期 Enfinium SE 系统的系统分辨率应为 (0.8*0.8 + 0.4*0.4)0.5 = 0.89 eV。

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