Gatan Microscopy Suite 软件

配合您的数字成像相机和周边组件来支持电子显微镜的各种应用,包括断层扫描术、原位、光谱和衍射成像等应用。

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优点: 

Gatan Microscopy Suite® (GMS) 是业界标准的(扫描)透射电子显微镜系统控制和结果分析软件。GMS 3 经过全面改造,现采用全新、简化的用户界面。GMS 3 可让新用户轻松实验基础的研究应用,同时还能继续为经验丰富的显微镜工作者提供其需要的深度访问和控制权限。

GMS 软件的卓越优势:

  • 以应用技术为核心的“工作流”设计:从实验设置、执行到分析提供全程指导
  • 分页式工作空间和数据布局管理器:提供人性化的数据组织和管理方法
  • 专用视图监控实时采集:清楚地区分新获取的数据和先前的实验结果
  • EELS 实验更简单:如今,基于理论模型的 EELS 分析程序功能强大,可以更轻松地提供高质量的分析结果
  • DigitalMicrograph® 脚本:为专家用户提供无与伦比的灵活性和高级控制

Publications

Science
2015

Mecklenburg, M.; Hubbard, W. H.; White, E. R.; Dhall, R.; Cronin, S. B.; Aloni, S.; Regan, B. C.

Food Chemistry
2016

Ramel Jr., P. R. R.; Peyronel, F.; Marangoni, A. G.

Science of The Total Environment
2016

Cáceres-Vélez, P. R.; Fascineli, M. L.; Grisolia, C. K.; de Oliveira Lima, E. C.; Sousa, M. H.; de Morais, P. C.; de Azevedo, R. B.

资源:

 

免费离线版 GMS 软件

下载软件

模块

数字成像软件
原位视频软件 同步图像与原位设备中的数据
TEM AutoTune 软件 自动调节焦距、像散和合轴
DigitalMontage® 软件 控制样品台和电子光学器件,将图像无缝拼接
HREM AutoTune 软件 通过自动调整 TEM 显微镜调焦、像散和电子束倾斜等关键参数,为 HREM 试验提供便利
DIFPACK 模块 用于实现选区电子衍射 (SAED) 和高分辨像的衍射分析软件包
HoloWorks 模块 Computes live phase images from live holograms, allows for live phase unwrapping and provides image stack acquisition and stack processing (including sample and interference-fringe drift correction) enabling high-resolution phase images at the 2pi/1000 level
EELS、EFTEM 和 STEM 软件
STEM 衍射成像模块 让您能够采集逐点的衍射图,作为 4D 数据集
高级 AutoFilter 套件 实现多元素 EELS 和 EFTEM 数据收集实验的自动化
GIF Tridiem® 863 升级到 Gatan Microscopy Suite 2 软件 AutoFilter 面板简化了从系统校准到数据获取的所有步骤
三维重构软件
3D 断层扫描数据采集软件 以 TEM、STEM 或 EFTEM 模式支持层析倾斜系列获取实验
3D 重建模块 对齐和重建您的三维倾斜序列像
GPU 加速重建软件 以较于传统方法快 100 倍的速度重构三维倾斜序列
3D 可视化模块 以渲染体数据、等值面、正交面等多种方法探索 3D 数据

 

产品说明书

Gatan Microscopy Suite 软件

应用

使用 Gatan Microscopy Suite 软件中的同步 EELS 和 EDS,实现快速 STEM 光谱成像

海报

对基于 Pd-Au 的催化剂的快速 STEM EELS 光谱成像分析
新一代 EELS 分光计效率极高,能够以毫秒速度从重元素中获取细节详实的 EELS 光谱,生成具有出色信息内容的成分图。

使用 EELS 进行生物材料的定量研究
经实践证明,EELS 是从生物样品中获取成分信息的宝贵工具。除成分以外,EELS 还提供了对化学特性的深入见解,揭示了化学键性质和不同的氧化态。

以 DualEELS 模式进行高阻抗金属合金的高速成分分析
证明了通常可从高能量边缘获取具备高对比度和高信噪比的高速原子 EELS 成分图。

使用 DualEELS 模式中高能量边缘的快速原子级 EELS 映射分析
证明了使用高能量边缘进行的原子 EELS 映射非常有效。高能量边缘的高信背比简化了数据提取。

对 III-V MOSFET 高介电系数叠层栅介质中的接触面进行原子解析 EELS 分析
证明了 EELS SI 可揭示原子列级的高介电系数 MOSFET 设备栅元素分布。

兼容性

计算机建议配置

工具

EELS 应用     脚本     EELS.info

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