PIPS II 系统

精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备,它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制

优点 研究热点 媒体库 出版物 资源 回到顶部
优点: 
  • 使用 X、Y 样品台来把减薄区域精确定位到离子束交叉点
  • 改进低电压性能的离子枪,有用电压低至 100 伏,从而快速安全地对 FIB 制备的TEM样品进行抛光
  • 利用 DigitalMicrograph® 软件和光学数码显微镜进行图像存储和分析
  • 10 英寸彩色触摸屏可用于显示和控制所有 PIPS™ II 参数

Publications

Journal of Nuclear Materials
2015

Aitkaliyeva, A.; Madden, J. W.; Miller, B. D.; Cole, J. I.; Gan, J.

Surface and Coatings Technology
2019

Kumar, A.; Nayak, S. K.; Bijalwan, P.; Dutta, M.; Banerjee, A.; Laha, T.

Basic Solid State Physics
2019

Olsen, V. S.; Bazioti, C.; Baldissera, G.; Azarov, A.; Prytz, Ø.; Persson, C.; Svensson, B. G.; Kuznetsov, A. Y.; Vines, L.

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