分析样品杆

专为室温下的 EDS 分析工作而优化

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优点: 

TEM 分析样品杆适用于基本的成像和分析应用,例如对 TEM 样品的电子衍射和 X 射线能谱法 (EDS) 分析。

  • 样品压片为铍金属,可尽量减少不必要的 杂散X 射线信号
  • 样品杆头部的几何形状与 TEM 极靴配置相符,以减少 EDS 信号的遮挡
  • 为了便于 X 射线定量分析,非旋转的样品杆配有一个小法拉第杯,位于样品杆尖头处
  • 不可旋转的样品杆可以安装电极
型号    铍支架    样品定位    样品固定    电动控制    法拉第杯    最大引电极数(选配)
643 标准 α 倾斜   Hexring® 机制   标准 6
646 标准 α、β 倾斜   Hexring 机制 β 倾斜 标准 4 – 61
650 标准 α 倾斜和旋转   Hexring 机制 旋转 0
925 标准 α、β 倾斜和旋转1   Hexring 机制   0
1 JEOL UHR 需要 2–6 个,所有其他 EMM 需要 2–4 个

Publications

Advanced Functional Materials
2014

Marincel, D. M.; Zhang, H.; Kumar, A.; Jesse, S.; Kalinin, S. V.; Rainforth, W. M.; Reaney, I. M.; Randall, C. A.; Trolier-McKinstry, S.

Applied Catalysis A: General
2014

Gil, S.; Cuenca, N.; Romero, A.; Valverde, J. L.; Sánchez-Silva, L.

Journal of Physical Chemistry
2014

Chen, D.; Friedrich, H.; de With, G.

资源:

 
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