阴极荧光详解 第4集:提高空间、谱和角度分辨率

本集内容将聚焦于实际操作,即如何在扫描电镜(SEM)的CL系统中采集更清晰锐利的阴极发光分布、谱或角度分辨的发光花样。在您参加完本次研讨会后,您将了解到为何对不同的样品类型,需要设置特定的SEM条件;以及对CL探测器的哪些组成部分或部件的控制,对于获取优化的结果是至关重要的。