Gatan 製品技術セミナー2017

主催:株式会社日本ローパー ガタン事業本部

Gatan社は電子顕微鏡アクセサリーのリーディングカンパニーとして創業以来50余年に渡り、カメラ、EELS、イオンミリング等の多種多様な装置の開発、製造および販売を続けてきております。今回で本セミナーの開催は5回目を迎え、現在のGatanの最新製品とソフトウェア及びアプリケーションのご紹介と共に、弊社製品のユーザーの方々の御発表を予定しております。お忙しい折とは存じますが、是非ご参加を検討くださいますようお願い申し上げます。

ご好評につき満員となりました為、お申込みは終了させて頂きました。
多数のお申込みありがとうございました。

プログラム

09:30~ 受付開始
10:00~ ご挨拶
高内 幸一(日本ガタン)
10:05 – 10:35 Automated 3D Preparation using a Broad Argon Beam Tool Integrated to a SEM/FIB(英語講演)
Mike Hassel-Shearer(Gatan, Product Manager, Specimen Preparation)
10:35 – 10:55 SEM 及び TEM 試料作製用パルスレーザー加工装置の紹介
藤谷 洋(日本ガタン)
10:55 – 11:25 Probing luminescent properties at the nanoscale with the Vulcan cathodoluminescence system(英語講演)
Kevin Scudder(Gatan, Business Department Manager, CL)
11:25 – 11:55 Gatan 社製EELS/エネルギーフィルタの分析機能の更なる能力向上
伊野家 浩司(日本ガタン)
11:55~ - 昼食(60分)-
12:55 – 13:30 State of the art developments on in-situ TEM characterization and applications(英語講演)
Eric Kievit(DENSsolutions, COO)
13:30 – 14:15 環境電子顕微鏡によるその場観察技術と新規収差補正法の開発
川﨑 忠寛 先生(JFCC)
14:15 – 14:45 Application of high-speed cameras for 4D data collection in S/TEM(英語講演)
Ana Pakzad(Gatan, Applications Scientist)
14:45~ 休憩(15分)
15:00 – 15:30 Latitude ソフトウェアパッケージによるデータ取得の最適化と自動化
伊野家 浩司(日本ガタン)
15:30 – 15:45 SEM、TEM 像の多次元画像解析ソフトのご紹介
池崎 満里子(日本ローパー メディアサイバネティクス事業本部)
15:45 – 16:30 直接電子検出装置がクライオ電顕単粒子解析にもたらす革新
重松 秀樹 先生(理化学研究所)
16:30 – 17:15 GaN ナノワイヤー・量子殻構造の結晶成長および発光デバイスへの応用
上山 智 先生(名城大学)
17:15~ 質疑応答
17:30~ セミナー閉会のご挨拶
18:00 – 20:00 懇親会を開催致します。ふるってご参加ください。
同ビル 22階 セミナー会場となり ホール22F
※本プログラムに変更がある場合がございます。予めご了承ください。
 
ご好評につき満員となりました為、お申込みは終了させて頂きました。
多数のお申込みありがとうございました。

参加定員:約70名

場所:TKP東京駅大手町カンファレンスセンター
〒100-0004 東京都千代田区大手町1-8-1
KDDI大手町ビル22階 ホール22E
TEL:03-4577-9265 
http://tkpotemachi.net/access/

アクセス:東京メトロ 大手町駅 C1 出口 直結
JR 東京駅丸の内中央口 徒歩 9分

Friday, February 24, 2017
10:00 am - 8:00 pm
1-8-1 Otemachi Chiyoda-ku
100-0004 Tokyo
Japan