3Viewシステム

Serial block-face (SBF) SEM法を使用した3次元超微細構造のセクショニングおよび画像キャプチャを自動で行うシステムです。

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メリット: 

3View®システムによって、様々な試料の3次元高スループット、高解像度イメージングが可能になります。32k x 24kの画像サポートと高性能ステージ、高感度反射電子検出器により、様々なタイプの試料の高速イメージングが完全自動化されています。 

  • 連続断面のイメージングでは、集束イオンビームイメージングや従来の連続切片イメージングの使用時に見られるエラーや歪みが最小限に抑えられます。
  • ラージフォーマット画像のサポート(32k x 24k)により、非常に大きな画像を収集することができ、非常に広い領域をイメージングする際にステージ移動を待つ無駄な時間が減ります。
  • XおよびYステージの50 nm以下の再現性により、複数領域のイメージングが可能で、不正確なステージ移動によるデータ損失もありません。
  • Z断面の厚さは15 nmで、マルチkV画像のぼけを取り除く必要がありません。
  • OnPoint™ 高感度の反射電子検出器により、画質を損なうことなく低kVで高速イメージングが可能です。

Publications

Molecular Cell
2016

Booth, D. G.; Beckett, A. J.; Molina, O.; Samejima, I.; Masumoto, H.; Kouprina, N.; Larionov, V.; Prior, I. A.; Earnshaw, W. C.

Journal of Neuroscience
2013

Holcomb, P. S.; Hoffpauir, B. K.; Hoyson, M. C.; Jackson, D. R.; Deerinck, T. J.; Marrs, G. S.; Dehoff, M.; Wu, J.; Ellisman, M. H.; Spirou, G. A.

Microscopy and Microanalysis
2010

Dohnalkova, A.; Kennedy, D.; Mancuso, J.; Marshall, M.; Mainwaring, P.; Fredrickson, J.

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