高機能STEM検出器

電子エネルギー損失分光法(EELS)に最適化されたSTEMイメージング用の高角度環状暗視野(HAADF)、環状暗視野(ADF)、および明視野および暗視野(BF/DF)検出器

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メリット: 

EELSマッピングおよび走査透過型電子顕微鏡(STEM)イメージングの場合、データ収集の効率性とその解釈において重要になるのが検出器の取り込み角度の適正制御です。高機能STEM検出器は、EELSシステムと連携して、散乱電子の角度範囲全体に渡って効率的な検出を実現するように最適化されており、各試料の化学的特性と組成を正確に把握できます。

  • EELS、回折コントラストSTEM、およびHAADF STEMアプリケーションに最適化された検出器を使用して電子の検出効率を最大限に高めます
    • 前方散乱電子 — EELS信号(0からβ)、取り込み角βはSTEMカメラ長により決定されます
    • 中角度散乱電子 — 高機能BF/DF STEM検出器(~βから2x β)
    • 高角度散乱電子 — HAADF検出器(~2x βから7x β)
  • 検出器オフセットとシステムゲインを調整し、絶対強度測定が可能です
  • 低ノイズの電子機器およびシンチレーター/光電子増倍管(PMT)ベースの設計
    • 低電子線量で単一電子が検出可
    • 標準的な電子線量では高SN比の画像が得られる
  • 自動化されたPMTゲインの採用により、コントラストはリアルタイムに最適化
  • 遠隔操作のための検出器ゲインおよび挿入のコンピュータ制御
  • 暗視野から明視野のSTEMモードにワンクリックで切り換え(モデル807)
  • GIF Quantum®とEnfinium™ EELSシステムの理想的な統合
  • GatanカメラおよびDigiScan™ IIシステムとの互換性により、既存のSTEMイメージングシステムのアップグレードが可能

Publications

Journal of the American Ceramic Society
2016

Cianchetta, I.; Trentelman, K.; Walton, M. S.; Maish, J.; Mehta, A,; Foran, B.

Materials Letters
2015

Majchrowski, A.; Ebothé, J.; Michel, J.; Chrunik, M.; Jaroszewicz, L. R.; Kulwas, D.

Materials Science and Engineering: A
2014

Eftink, B. P.; Mara, N. A.; Kingstedt, O. T.; Safarik, D. J.; Lambros, J.; Robertson, I. M.

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