複数試料ホルダー

複数の試料を同時にホルダーにセットすることで観察効率を向上

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メリット: 

透過型電子顕微鏡(TEM)用の複数試料ホルダーを使用することで、多数の試料の比較スクリーニングが必要となる用途において観察効率が向上します。

  • ホルダーのタイプに応じて、常温または冷却温度下で観察
  • 交換可能なカートリッジ設計により、脆い試料の取り扱いと保管が簡単
  • FIBBEM™カートリッジの片側の開口部からイオンビームとデポジションガスにアクセスして試料の作製が可能であり、そのままカートリッジを試料ホルダーに取り付けてTEM観察が可能
モデル番号 試料位置 試料固定 交換可能カートリッジ 動作温度
677 αチルト Hexring®
メカニズム
1、2 周囲
677.FIB αチルト FIBBEMカートリッジ 1 周囲
910 αチルト Splitring®メカニズム 3 -170 °C
未満
1 HitachiおよびZeiss TEM用のホルダーでは、2つの試料位置が使用可能です。FEIおよびTopcon TEM用のホルダーでは、3つの試料位置が使用可能です。JEOL TEM用のホルダーでは、5つの試料位置が使用可能です。
2 狭いポールピースギャップ用の構成には、着脱可能カートリッジは含まれません。
3 HitachiおよびZeiss TEM用のホルダーでは、2つの試料位置が使用可能です。FEI、JEOL、およびTopcon TEM用のホルダーでは、3つの試料位置が使用可能です。

リソース:

 

モデル677、677FIB、910

データシート

一軸傾斜複数試料ホルダー、モデル677
一軸傾斜複数試料ホルダー(FIB用)、モデル677FIB
一軸傾斜複数試料クライオトランスファーホルダー、モデル910

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