出版物

Coupled broad ion beam-scanning electron microscopy (BIB-SEM) for polishing and three dimensional (3D) serial section tomography (SST)

Ultramicroscopy

2020

Gholinia, A.; Curd, M. E.; Bousser, E.; Taylor, K.; Hosman, T.; Coyle, S.; Hassel Shearer, M.; Hunt, J.; Withers, P. J.

Ultramicroscopy

2021

Krause, F. F.; Schowalter, M.; Oppermann, O.; Marquardt, D.; Müller-Caspary, K.; Ritz, R.; Simson, M.; Ryll, H.; Huth, M.; Soltau, H.; Rosenauer, A.

Ultramicroscopy

2014

Penczek, P. A.; Fang, J.; Li, X.; Cheng, Y.; Loerke, J.; Spahn, C. M. T.

Ultramicroscopy

2014

Forbes, B. D.; Houben, L.; Mayer, J.; Dunin-Borkowski, R. E.; Allen, L. J.

Tribology International

2019

Jenei, I. Z.; Dassenoy, F.; Epicier, T.; Khajeh, A.; Martinic, A.; Uy, D.; Ghaednia, H.; Gangopadhyay, A.

Tribology International

2016

Bejjani, R.; Collin, M.; Thersleff, T.; Odelros, S.

Thin Solid Films

2014

Pfeiler-Deutschmann, M.; Mayrhofer, P. H.; Chladil, K.; Penoy, M.; Michotte, C.; Kathrein, M.; Mitterer, C.

Thin Solid Films

2014

Brons, J. G.; Thompson, G. B.

Thin Solid Films

2015

Cui, Y.; Huang, P.; Wang, F.; Lu, T. J.; Xu, K. W.

Thin Solid Films

2015

Yoo, S. J.; Lee, J. -H.; Kim, C. -Y.; Kim, J. -G.