OneView LD Camera

メリット:

OneView^® LD – 透過型電子顕微鏡 (TEM) を使用した定量的な空間測定のための、高解像度、低ひずみ (Low-Distortion; LD) の像を保証する初めてのカメラです。TEMはその電子光学系に起因するひずみを生じますが、カメラによるひずみも撮影範囲 (FOV) 全体に渡った定量的な測定に対して不確実性を生じさせます。

撮影視野全体に渡る低ひずみの測定：カメラに起因するひずみを広い撮影範囲 (4096×4096ピクセル) に対して最小化
ビデオフレームレート (25フレーム/秒) と高解像度の両立：速度のために解像度を犠牲にする必要がありません。常に最高解像度での”ライブ”観察を実現します
管理時間の短縮：低ひずみのカメラを使用することによって、TEMの日常管理におけるトータルのひずみ仕様値の達成にマージンが得られます
ひずみマッピングを含む4D STEMのアプリケーション：Gatan Microscopy Suite^®のインターフェイスを通じた高速 4D STEM 電子線回折実験を実現