メディアライブラリ

55 - 72 of 234 media results
実用材における問題を解決するための、高速取得、低加速電圧電子線回折の利用Utilization of low voltage electron diffraction at high speed to solve practical materials problems
CryoARM / K3の組み合わせによる高分解能観察CryoARM / K3の組み合わせによる高分解能観察 : SerialEMとLatitude、そしてデータ取得の将来
In-Situ Data Processing with GMS 3.4: Data FilteringIn-Situ Data Processing with GMS 3.4: Data Filtering
In-Situ Data Processing with GMS 3.4: Alignment FiltersIn-Situ Data Processing with GMS 3.4: Alignment Filters
In-Situ Data Processing with GMS 3.4: Drift Correction_ROI
In-Situ Data Processing with GMS 3.4: Drift Correction_Full Frame
NLLS for ELNES example NLLS for ELNES example
NLLS Using Functions and Fixed referencesNLLS Using Functions and Fixed references
MLLS Internal ReferencesMLLS Internal References
CLとEDSの組み合わせによる試料分析能力の向上
Quantitative mapping of lithium in the scanning electron microscope Quantitative mapping of lithium in the scanning electron microscope
Mounting a Sample on a DuoPost
DuoPost Sample Insertion
EDAX EDS Powered by Gatan、EDAXとGatanのコラボレーションによる最新のTEM/STEMアプリケーションのご紹介EDAX EDS Powered by Gatan、EDAXとGatanのコラボレーションによる最新のTEM/STEMアプリケーションのご紹介
Characterization of nanophotonic devices far below the diffraction limit workshopCharacterization of nanophotonic devices far below the diffraction limit workshop
スペクトラムイメージングデータのためのダイナミックマッピングツールSpectrum Image Dynamic Map Tool
半導体デバイスのキャラクタリゼーションのためのエネルギー損失分光法
4D STEM Diffraction用Stela ハイブリッド-ピクセル電子線検出器4D STEM Diffraction用Stela ハイブリッド-ピクセル電子線検出器

Pages

  • 最初
  • 前
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • …
  • 次
  • 最後へ