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EDAX Lambda WDS 波谱仪

EDAX Lambda™ 波长色散谱仪（WDS）采用先进技术提高了准确度和精度，为您的材料分析保驾护航。Lambda 波谱仪也可包含在 EDAX Neptune 和 Trident 分析系统中，没有能谱 (EDS) 的峰重叠问题，可将最低检测限性能提升 10 倍并能更精确定量，显著提高结果准确性。

Lambda WDS分析系统

 

Lambda 波谱仪专为平行光束操作而设计，有以下型号：
  • Lambda Plus – 检测过渡元素时效率佳使用多毛细管光学器件，能量范围 150 eV – 10 keV (从 B K 线到 Ge K线)
  • Lambda Super – 结合多毛细管光学元件和获得专利的双光学元件使用高收集、反射 X 射线光学器件，高效检测轻元素，特别是 B、C、N 和 O
EDS中硅的K线和钨的M线的重叠在WDS中能够被轻易的区分。
图 1. 使用 WDS 而不是 EDS 可轻松解决Si K 和 W M 线的重叠问题。
扫描模式

Lambda 波谱仪可以扫描整个能量范围，以覆盖元素周期表中每种元素的至少一条 X 射线线系。扫描模式选项包括：

  • 自动采集一个或多个元素
  • 能够根据您的应用自定义扫描范围
  • 用户可选择的步长和速度
  • 峰值和背景模式，用于选择元素
    • 通过直观的元素周期表界面选择元素
    • 软件建议衍射仪、峰和背底位置
定性定量分析

带有 Smart Quant 的 EDAX APEX™ 软件为用户提供定性和定量测量结果。可同时采集和叠加 EDS 和 WDS 数据，更好的进行定性分析。对于目标元素的定量，可以选择任一种技术（EDS 或 WDS）来进行，以提高精度和检测限.

特点和优点

紧凑型设计
  • 适配市面上所有扫描电子显微镜 （SEM） 舱室，仅需可用的高角度接口
  • 安装在标准 EDS 端口上 – 无需特殊舱室或接口
和EDS相比，碳化硅中的碳在WDS中具有更好的分辨率。
图2. 与EDS相比，WDS中SiC中的C峰分辨率更好
灵敏度
  • 将 X 射线光学元件和紧凑型设计相结合，提供优异的计数率
高计数率和峰背比
  • 以优化分辨率进行快速 X 射线分析
  • 过渡元素的 K 线分辨率极佳
  • 能解决大多数元素重叠峰问题 易于校准
  • 自动化例程可提高数据的操作、性能及准确性
与 EDS 和易于使用的 APEX 软件无缝集成
  • 对EDS 和 WDS 用户的直观操作
  • 改进的 X 射线显微分析
  • 涵盖整个元素周期表
智能对焦

Smart Focus 是 APEX 软件的一项智能功能，自动调整样品高度以聚焦 WDS 信号，以优化WDS的性能.

资源

产品公告
实验简报
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