ClearView カメラ

モデル 1195

日々の電子顕微鏡観察をより高いレベルへと押し上げる高性能シンチレータカメラ

メリット

ClearView^® は、日々の透過型電子顕微鏡法(TEM)をより高いレベルへと押し上げる高性能シンチレータカメラです。ClearViewを使用することで、シンチレータカメラにおいて実現可能な最高のフレームレートを用いて、インパクトのあるその場観察や4D STEMデータを誰もが取得出来ます。さらにこのカメラが備える新たな像観察モードによって、材料科学の試料から生物試料まで最高のクオリティの像を簡単に取得することが可能です。

最高のクオリティで像を取得

新開発のCMOSセンサーは常にハイダイナミックレンジのセンサー読み出しを行い、4k×4kピクセルの像と動画を50フレーム毎秒(fps)で取得

Record in-situ video and 4D STEM data at the highest speeds of any scintillator camera: Acquire data up to 1,600 fps at 256 x 256 resolution to record fast in-situ reactions or analyze large areas quickly with 4D STEM

シンチレータカメラとして最高の速度でその場観察動画と4D STEMデータを記録

256 × 256ピクセルの解像度で最高1600 fpsのデータを取得し、その場観察における速い反応の記録や4D STEMで広い視野の解析を行うことが可能

$Maximize signal-to-noise for low-contrast imaging and diffraction: New enhanced frame exposure imaging mode integrates less read noise to better resolve subtle image and diffraction features under low-dose conditions$

低コントラストの像観察や回折図形の記録のためS/N比を最大化

新たに搭載された撮影モードによって読み出しノイズを抑え、低電子線照射条件下における微弱な信号の像や回折図形中の情報を記録することが可能

あらゆる観察手法や実験に求められるフレームレートとデータレートを実現

センサーの部分領域読み出し機能を新たに備え、像サイズと視野範囲を選択可能

Integrates with eaSI technology for the most efficient multidimensional and multimodal experiments: Acquires 4D STEM data linked with elemental data from complimentary detectors

最も効率的な多次元、マルチモーダル測定のためのeaSIテクノロジーとのインテグレーション

相補的に他の検出器から得られる組成情報と同期した4D STEMデータを取得

In-situ オプション

像のビニング機能によりフレームレートを4倍向上し、さらにセンサーの部分読み出し機能が最高8倍までフレームレートを向上
ビニング機能と部分読み出し機能を組み合わせることで最高1600 fpsに達し、ミリ秒以下のその場実験の反応の研究を実現
LookBack™機能によって変化の始まりを逃がしません。LookBack機能は、現象の開始後にデータ取得を作動させるビデオバッファーであり、現象を初めから確実に捉えることが可能
より長いデータ取得の時間間隔、または少ないフレーム数でデータを保存するTimeLapse機能によって、長時間の実験においても確実に記録可能
ドリフト補正、ビデオ編集、データ出力などの様々なツールを用いて、初めから最後までDigitalMicrograph® ソフトウェア上でデータの処理が可能

Low distortionオプション

TEMを使用した定量的な測長のため、高解像度と低ひずみの像を保証
改良された光ファイバーカップリングと撮像性能によってカメラに起因するひずみを最小化
カメラのひずみを抑えることで、通常のTEMを用いた評価における最終的なひずみの仕様に対し大きなマージンを与えます

データシート

ClearView カメラClearView Service Plans

用途

Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。

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$Frame Control mode for optimized imaging and diffraction with ClearView camera$

像観察と回折図形の記録を最適化するClearViewカメラのフレームレート制御モード

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メディアライブラリ

科学的発見の世界に浸ってみましょう。これまで見えなかったものを明らかにする印象的な電子顕微鏡像や、Gatanのテクノロジーが実際にどのように機能するかを紹介するビデオやチュートリアルをご覧ください。

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4D STEM and virtual aperture imaging with ClearView

The ClearView camera can acquire 4D STEM datasets at up to 1,600 fps, enabling high-throughput and large area 4D STEM acquisition. Using built-in tools in DigitalMicrograph, users can probe the diffraction image at different locations within the 4D STEM spectrum image and reconstruct RGB images from different virtual dark-field images. Images acquired at 200 kV using the ClearView camera and STEMx system (eaSI).

$Selected area electron diffraction pattern$

Selected area electron diffraction of Au nanoparticles taken with ClearView camera (4k x 4k, 2 s acquisition, 50 fps) and Spectra 300 at 300 kV.

$Better resolve faint, high-resolution diffraction spots$

Enabling Frame Control mode allows users to better leverage the full dynamic range of the camera and maximize the signal-to-noise in acquired images by reducing the camera framerate and minimizing the total readout noise in an image. The left image shows a selected area electron diffraction pattern of a Si [110] sample. Frame Control mode was used to optimize the signal-to-noise. The diffraction pattern was a 1s acquisition at 4 fps and 4k x 4k resolution. The middle image shows an inset area of the diffraction pattern, showing faint diffraction spots. Spot #1 in particular is very faint.

HRTEM Imaging of MgCrMnO4 material for lithium-ion batteries. Image captured with ClearView camera at 4k x 4k resolution and at 200 kV. Data courtesy of Danial Zangeneh, University of Illinois Chicago (UIC)

Enabling Frame Control mode allows users to better leverage the full dynamic range of the camera and maximize the signal-to-noise in acquired images by reducing the camera framerate and minimizing the total readout noise in an image. The left and middle images show a 2 s image acquisition captured at 4k x 4k resolution and 50 fps. These images provide high levels of detail from the semiconductor sample being imaged. The right image utilizes Frame Control mode to capture a 2 s image at 4k x 4k resolution and 1 fps and shows the same inset area.

Image samples at the desired orientation with TruAlign

TruAlign enables a digital rotation of the ClearView camera image so that data can be acquired at the desired sample orientation. Images acquired with a ClearView camera at 200 kV and . The original sample orientation image was acquired at 4k x 4k resolution and the TruAlign image was acquired at 2850 x 2850 resolution.

Large field of view, high resolution imaging of Au particles

Au nanoparticles, with fast Fourier transform (FFT) showing 0.9 Å resolution information (dashed line). Captured with ClearView camera (4k x 4k, 5 s acquisition, 15 fps) and Spectra 300 at 300 kV.

Live drift correction during imaging acquisition

ClearView can acquire images up to 30 s total capture time and apply a live drift correction to remove the effects of spatial drift. Utilizing live drift correction enables high-resolution data acquisition even with sample drift. Images acquired with a ClearView camera at 4k x 4k resolution and 200 kV.