技術

4D STEMはSTEMマッピングの各ピクセル位置に対して完全な二次元の回折図形を取得する手法です。

ナノスケールにおける材料の化学的、光学的、電子的特性に関するユニークな洞察

クライオ温度下で生物試料をより自然な状態で観察します

電子線後方散乱回析法(EBSD)によって材料の結晶方位や組織を調べることができます。

エネルギー分散型X線分光法(EDS/EDX)は、試料の組成または化学的性質を解明します。

化学分析および組成分析用電子エネルギー損失分光法(EELS)。

最先端のスペクトラムイメージング測定において最も効率的で効果的なワークフローを提供します。

権威ある賞を受賞した高分解能イメージングツールを使用することで、生物試料や無機試料の超微細構造を把握できます。

成長過程、化学反応と酸化、照射効果、機械特性、磁気特性、強誘電特性をリアルタイムで観察。

統合技術により、複数の分析手法を一体化したシステムで、包括的な材料特性評価を実現します。

TEM内で試料を連続傾斜させながら、微小結晶からの電子線回折図形を取得

多層構造、センシティブ、凹凸のある試料に対して高解像度な非破壊元素分析を提供します。

波長分散型X線分光法（WDS）による高精度な元素同定と定量分析。