半導体材料とデバイス

結晶欠陥、電子構造、微量元素化学を明らかにすることで、材料に関する独自のナノスケール光学的洞察を提供します

結晶方位、相、粒界をマッピングすることで詳細な微細構造解析を可能にします

材料特性をより深く理解するために、元素組成と化学結合について原子スケールの洞察を提供します。

試料から放出される特性x線を検出することで、迅速かつ信頼性の高い元素分析を可能にし、研究者が元素を特定および定量化できるようにします。

EELS、EDS、4D STEMなどを統合し、豊富で相関性のある洞察を提供します。これにより、複雑で動的なナノスケール現象の理解が進みます。

生体および無機試料の高分解能可視化を提供し、超微細構造、材料の成長、および破壊メカニズムの研究を可能にします。

制御された刺激下でリアルタイムのナノスケールダイナミクスをキャプチャし、基本的なメカニズムを解明し、科学的発見を加速します。

EDS、EBSD、CL、BSE、WDSを統合プラットフォームに組み合わせ、複雑な材料に関する包括的で高解像度の洞察を提供します。

高分解能で非破壊の元素分析を提供します。層状、感受性の高い、または不規則な試料に最適です。

高いスペクトル分解能と感度を提供し、複雑な試料中の微量および軽元素の正確な識別と定量を可能にします。