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発光材料とデバイス

発光材料における微細構造、欠陥、光学特性の相互作用を明らかにし、優れた明るさ、色精度、デバイスの信頼性を実現します。

発光材料とデバイス
 

オプトエレクトロニクスにおけるイノベーションを推進

発光材料とデバイスは、LED、有機EL、先進的なディスプレイシステムなどの技術の中心にあります。それらの組成、界面、およびナノスケールでの劣化メカニズムを理解することは、効率、色の品質、寿命を向上させるために重要です。Gatanは、これらの詳細を比類のない精度で明らかにする最先端の電子顕微鏡ソリューションを提供します。

電子顕微鏡が発光材料にとって重要である理由

デバイス性能は、半導体層、ドーパント分布、および界面構造間の複雑な相互作用に依存します。当社のソリューションは以下を支援します:

  • 半導体層内の集合組織と相マップを可視化します。
  • 最適化された性能のために元素組成とドーパント分布を分析します。
  • 効率と信頼性に影響を与える欠陥と劣化メカニズムを検出します。
  • 光学特性をナノスケール形態と関連付け、予測設計を行います。

研究を加速する技術

先進的な顕微鏡技術と分析技術により、発光材料とデバイスアーキテクチャの正確な特性評価が可能となり、効率、色品質、長期的な信頼性を向上させる重要な構造と特性の関係を明らかにします。

カソードルミネッセンス (CL)

カソードルミネッセンス (CL)

結晶欠陥、電子構造、微量元素化学を明らかにすることで、材料に関する独自のナノスケール光学的洞察を提供します

電子後方散乱回折(EBSD)

電子後方散乱回折(EBSD)

結晶方位、相、粒界をマッピングすることで詳細な微細構造解析を可能にします

電子エネルギー損失分光法(EELS)

電子エネルギー損失分光法(EELS)

材料特性をより深く理解するために、元素組成と化学結合について原子スケールの洞察を提供します

エネルギー分散型x線分光法(EDS/EDX)

エネルギー分散型x線分光法(EDS/EDX)

試料から放出される特性x線を検出することで、迅速かつ信頼性の高い元素分析を可能にし、研究者が元素を特定および定量化できるようにします

eaSIスペクトルイメージング

eaSIスペクトルイメージング

EELS、EDS、4D STEMなどを統合し、豊富で相関性のある洞察を提供します。これにより、複雑で動的なナノスケール現象の理解が進みます。

イメージング

イメージング

生体および無機試料の高分解能可視化を提供し、超微細構造、材料の成長、および破損メカニズムの研究を可能にします

in-situ

in-situ

制御された刺激下でリアルタイムのナノスケール動態を捉え、基本的なメカニズムを解明し、科学的発見を加速します

統合型SEM

統合型SEM

EDS、EBSD、CL、BSE、WDSを統合プラットフォームに組み合わせ、複雑な材料に関する包括的で高解像度の洞察を提供します

波長分散型x線分光法(WDS)

波長分散型x線分光法(WDS)

高いスペクトル分解能と感度を提供し、複雑な試料中の微量および軽元素の正確な同定と定量を可能にします

設定

設定

革新を促進する結果を可能にする

Gatanで電子顕微鏡の力を解き放ち、最先端のアプリケーションを探求し、科学的な突破口を促進する詳細なアプリケーションノートを通じて洞察を発見してください。

メディアギャラリー

科学的発見の世界に浸りましょう—目に見えないものを明らかにする印象的な顕微鏡画像を探索し、Gatanテクノロジーが実際に動作する様子を紹介するウェビナーやチュートリアルをご覧ください。