K3 カメラ

モデル 1025, 1024

直接検出型カメラの撮像能力の新たな性能ベンチマーク

メリット

K3^® カメラの性能は直接検出型カメラの撮像能力の新たなベンチマークとなります。全てを見直し新たに設計することで、ライフサイエンスとマテリアルサイエンス双方の分野に求められる低電子線照射量観察に最適化されたカメラです。リアルタイム、単電子カウンティングを実現するために、Gatanの全ての知見を投入して開発された直接検出型カメラがK3カメラです。

Powerful inline signal processing will raise the DQE beyond that of the K2® camera; the addition of CDS mode pushes this even higher

強力なインラインの信号処理系によって K2^® を超えるDQEを実現。CDSモードの追加によりDQEはさらに向上

Real-time electron counting immediately lets you know if your samples are good

リアルタイムの電子カウンティング処理によって試料の良否を即座に判断

Optional inline, GPU-based motion correction avoids the need to save terabytes of raw frames

オプションのインライン、GPUベースのモーションコレクション機能によってテラバイト級の生データが不要

up to 1500 full frames per second capture

1500フレーム/秒－ K2カメラ比3.75倍

Match the field of view with your application needs

アプリケーションに適した視野範囲が選択可能

データシート

K3 カメラ

用途

Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。

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$Acquiring counted electron diffraction data without a beam stop with Gatan electron counting direct detectors$

Gatanの直接検出型電子カウンティング検出器を用いたビームストッパーを使用しない電子線回折図形の撮影方法

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メディアライブラリ

科学的発見の世界に浸ってみましょう。これまで見えなかったものを明らかにする印象的な電子顕微鏡像や、Gatanのテクノロジーが実際にどのように機能するかを紹介するビデオやチュートリアルをご覧ください。

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Electron-counted SAED of ZSM-5 with the K3 camera (left) Selected area diffraction pattern of ZSM-5 was acquired with a 1.3 s exposure without a beam stop. (right) Profile of the diffraction spots showing high SNR for peak intensities varying over three orders of magnitude. Sample courtesy of Dr. Dos Reis, Northwestern University.

K3 camera for MicroED/3DED Counted three-dimensional electron diffraction dataset from a ZSM-5 crystal collected with the K3® camera. Diffraction patterns were recorded at 0.5° intervals collected over 10°. The cumulative dose was ∼0.5 e-/Å2.