高機能STEM検出器
モデル 806, 807
電子エネルギー損失分光法(EELS)に最適化されたSTEMイメージング用の高角度環状暗視野(HAADF)、環状暗視野(ADF)、および明視野および暗視野(BF/DF)検出器
メリット
EELSマッピングおよび走査透過型電子顕微鏡(STEM)イメージングの場合、データ収集の効率性とその解釈において重要になるのが検出器の取り込み角度の適正制御です。高機能STEM検出器は、EELSシステムと連携して、散乱電子の角度範囲全体に渡って効率的な検出を実現するように最適化されており、各試料の化学的特性と組成を正確に把握できます。
感度を高める
検出器の操作を簡素化します。
Gatan製カメラおよび分光器とシームレスに統合します。
データシート
用途
Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。
メディアライブラリ
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Image of interplanetary dust particle; STEM tilt series acquired with a 806 HAADF detector from -61˚ to 68˚; aligned, reconstructed and visualized using 3D reconstruction and 3D visualization software; the iso-surfaces highlight two different intensity levels in the reconstruction. Data courtesy of Dr. Ilke Arslan of Sandia National Laboratories, Livermore, California and Dr. John P. Bradley of Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, California.
The HAADF signal (left) contrast is easily interpreted in terms of mass thickness of the material while the diffraction contrast MAADF signal (right) reveals highly detailed structural changes in the material. The optimized geometry makes this possible.
a) HAADF image of a GaAs/GaAsP multilayer laminate; b) Integrated diffraction pattern of the superlattice structure along the [011] zone axis; c) Virtual BF image extracted from 4D data cube quantifying strain down to 1.2 nm resolution in full 2D area in eyy; d) exx strain for same area shown. Data courtesy V. B. Ozdol et al., National Center for Electron Microscopy, Lawrence Berkeley National Laboratory and Department of Materials Science and Engineering, University of California, Berkeley, California.
リソース
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