分析ホルダー

モデル 643, 646, 650, 925

常温でのEDS分析に最適化

メリット

TEM analytical holders are designed for basic imaging and analytical applications, such as electron diffraction and energy dispersive x-ray spectroscopy (EDS) analysis of crystalline TEM specimens.

A beryllium specimen cradle minimizes unwanted x-ray signals

ベリリウム製の試料保持部が不要なX線信号を最小限に抑制

Cut-outs in the specimen tip are matched to the TEM configuration and provide a clear path between the sample and detector to reduce shadowing for EDS analysis

試料ホルダー先端部の切り欠き部をTEMと分析機器との位置関係に最適化しており、試料と検出装置の間で信号を遮蔽することなく、EDS分析におけるシャドーイングを軽減

To facilitate quantitative x-ray analysis, non-rotating holder versions are equipped with a small Faraday cup located near the specimen cradle at the tip of the holder

定量X線分析のために、面内回転機構を有さない試料ホルダーの先端部には試料保持部脇に小型ファラデーカップを装備

Electrical connections are available for the non-rotating versions of the holder

回転機構を有さない試料ホルダーではフィードスルーを追加可能

モデル番号	ベリリウム製試料保持部	試料移動	試料固定	モーター駆動	ファラデーカップ	電流/電圧フィードスルー、最大数(オプション)
643	標準	αチルト	Hexringメカニズム		標準	6
646	標準	α、βチルト	Hexringメカニズム	βチルト	標準	4 – 6¹
650	標準	αチルトおよび面内回転	Hexringメカニズム	回転	無	0
925	標準	α、βチルトおよび面内回転¹	Hexringメカニズム		無	0