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ディンプルグラインダⅡ 

モデル 657 

電子が透過可能なレベルに近い厚さまで試料を高速かつ高い信頼性の機械的手法によって予備研磨することで、イオンミリング時間を大幅に短縮し、不均一研磨を軽減します。

Dimple Grinder II

メリット

電子が透過可能なレベルに近い厚さまで試料を高速かつ高い信頼性の機械的手法によって予備研磨することで、イオンミリング時間を大幅に短縮し、不均一研磨を軽減します。

 

Large transparent areas

広い観察領域

大型ホイールとフラットホイールの両方を使用することで、加工後に大きな観察領域を保つことが出来ます

Stronger specimens

高い試料強度

試料に厚い縁部が残るため、ディンプル加工後も試料が保護され、強度が増加します

Direct preparation of TEM specimens

TEM 試料の直接作製

ディンプル加工後の試料の最終厚みが 3 μm 未満の試料作製が可能です

Accurate depth and thickness control

深さと厚みの正確な制御

ユーザーが指定出来る停止点と厚さのリアルタイム表示により、適切なディンプル深さと厚みで試料作製が可能です

Micro-positioning

ミクロン単位の位置決め

互いの回転軸が直交し交差することで、より正確に研磨位置決めが可能です

 

データシート

リソース

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