アプリケーション
Argon ion polishing of focused ion beam specimens in PIPS II system
November 6, 2015
PIPS IIシステム
モデル 695
精密なセンタリング、制御、再現性を実現する高精度イオン研磨システム
メリット
本製品は、透過型電子顕微鏡（TEM）用試料作製装置として20年以上業界標準となっているPIPSイオンミリングシステムの基本性能と操作性を飛躍的に向上させた製品です。
X、Yステージにより、試料上の加工領域とアルゴンビームの位置合わせが可能
光学系の改善によって100 Vの低電圧でも使用でき、素早くFIB試料のダメージ層除去が可能
DigitalMicrograph®ソフトウェアの画像保存および分析機能を使用したデジタル光学イメージングが可能
10インチのカラータッチスクリーンを使用して、すべてのPIPS™ IIパラメータを表示および制御
データシート
用途
Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。
Untitled
Ready, set, go! Ensuring an identical TEM specimen preparation route again and again
October 29, 2015
Untitled
Application of PIPS II system for cross-sectional TEM specimen preparation of semiconductor devices
September 30, 2015
メディアライブラリ
科学的発見の世界に浸ってみましょう。これまで見えなかったものを明らかにする印象的な電子顕微鏡像や、Gatanのテクノロジーが実際にどのように機能するかを紹介するビデオやチュートリアルをご覧ください。
Atomic level EELS prepared in PIPS II system following FIB preparation (image 2)
Atomic level EELS prepared in PIPS II system following FIB preparation
AlPb melt-spun ribbon with 1 - 3% at wt Ga HR-STEM using TEAM 0.5
Ca3Co4O9 on SrTiO3 substrate
リソース
電子顕微鏡を支えるツール、データ、そして知見を探求しましょう。アプリケーションや周期表のリソースから、専門家のブログやニュースレターまで、幅広い情報を提供しています。
ブログ
電子顕微鏡における最先端の知見、エキスパートの視点、そして実用的なアプリケーション例をご覧ください。
EM Academy
自分のペースで学習できるコースを通して実践的な経験を積み、電子顕微鏡研究のスキルを向上させましょう。
FAQs
電子顕微鏡に関する質問の回答は、FAQをご覧ください。
ファームウェア
ダウンロード、アップデートおよびアプリケーション別リソース
サービスプラン
保守、アップグレード、サービス調整、修理など、Gatan製品が常に最高のパフォーマンスを発揮できるようサポートします。
ストア
必要なスペアパーツや消耗品を簡単に注文し、研究を継続できます
