直接検出型電子カウンティングカメラを用いたMicroED/3DEDによる解析能力の向上

Gatan社使用装置

Metro^® カメラは、シンプルなユーザーインターフェイスを通じてリアルタイム電子カウンティング処理を行った低電子線照射条件下での像観察と電子線回折測定を実現します。

研究の背景

半導体分子であるPPEAは、グラフェン表面に対する高い親和性を示します。PPEA分子は非常に小さな長さが数μm、幅が100から200 nmの針状結晶を形成します。寸法が非常に小さいことから、X線単結晶構造解析の手法を適用することが出来ません。さらにPPEAは電子線照射に対して敏感であることから、結晶へのダメージを避けるために透過型電子顕微鏡(TEM)の低電子線照射観察の手法が必要であり、連続電子線回折トモグラフィ法 (MicroED/3DED) がその構造決定に適した手法であると考えられます。