Metroカメラを用いた二次元材料の低加速電圧観察

Gatan 社使用装置

低加速電圧における低電子線照射量観察と電子線回折測定をMetro^®カメラがシンプルなユーザーインターフェイスを通じて実現します。

研究の背景

MoS₂ のような二次元材料は、その独特で最適化可能な特性から広く研究されています。単原子レベルの原子空孔からナノメートルサイズのボイドまで、二次元材料中の欠陥に関する研究がDNA配列の決定、タンパク質のセンシング、脱塩水、イオン輸送などに関するさまざまな基礎的な研究や応用を発展させました。高分解能でこれらの材料中の欠陥を観察することで、実環境における独特な特性の由来の知見が得られ実際の応用のためにこれらの欠陥を設計することが可能となります。