電子カウンティング機能を用いた200 kVでのグラフェン像観察

Gatan使用装置

リアルタイムの電子カウンティング処理による低電子線照射量像観察と高速連続データ取得、そして広視野観察を実現する K3^® ISカメラ

背景

グラフェンの様な二次元材料の独特で調整可能な特性について研究が進んでいます。電子線照射に対して非常に敏感なことから、通常グラフェンは80 kV、またはそれ以下の加速電圧でのみ観察が行われてきました。このような低加速電圧において、モノクロメータや収差補正器を備えていない透過型電子顕微鏡(TEM)でグラフェンを原子レベルで観察することは非常に困難です。代わりにグラフェンや他の二次元材料をより低い照射電流密度で観察する方法もありますが、単層グラフェンのコントラストは非常に小さいため困難を伴います。