電子線回折結晶方位解析 (EBSD)のご紹介

電子線回折結晶方位解析法（EBSD）は1928年に菊池博士によって発見されましたが、微細構造を評価するため、この技術の有用性が理解されたのは、1991年に完全に自動化されてからでした。EBSDは、走査型電子顕微鏡（SEM）をベースとした解析手法であり、多結晶材料の微細構造の結晶学的側面を点単位で定量化・可視化する実用的な手段を提供します。EBSDシステムは現在、世界中の材料特性評価ラボのSEMに搭載されています。このウェビナーでは、回折物理学と結晶学の相互作用に関する議論を含め、EBSD技術を紹介します。その後、マテリアルサイエンス、エンジニアリング、地球科学におけるEBSDアプリケーションをご紹介します。