STEMxシステム

モデル 1020

お手持ちのGatan in-situカメラで4D STEMデータを取得できる強力なツール

メリット

STEMx^®は、導入頂くことで4D STEMデータがお手持ちのGatan社製デジタルカメラ(K3^® IS、Metro^® カメラシリーズ、ClearView^® IS、OneView^® IS、Rio^® 16 IS、Stela^®) とGIF Continuum^® で取得可能となる強力なツールです。4D STEMは二次元のSTEMマップの各ピクセルに対して、完全な二次元の回折図形を取得する手法です。

eaSI™ テクノロジー搭載

高品質のデータをすべてのユーザーに

様々な装置に対応する比類ない4D STEMシステム

測定条件を設定するためにDigitalMicrograph^® ソフトウェアのSTEM スペクトルイメージング (SI) 機能を使用し取得を開始します。STEMx ユニットを通じてハードウェア同期を行い、STEMの各ビーム位置に対して自動的に回折図形が記録されます。STEM SI機能を使用することで、EELS、EDS、そしてCLからの信号を組み合わせ、試料上の同じ箇所から同時、あるいは連続的に(取得モードに依存)取得することが可能です。同様に4D STEM In-situパッケージを用いて5D STEM(4D STEM＋時間)データを取得することも出来ます。そのようなマルチモーダルで同期されたデータ取得によって、回折イメージングデータからは形態と構造解析が、またスペクトルデータからは化学状態分析と組成分析が可能となり、試料からのより決定的な分析が実現します。

豊富な情報を含む4Dデータセットを最大限に活用するため、STEMxには統合された様々な解析ツールが備えられています。これらのツールには以下が含まれています:

データシート

STEMxシステム

用途

Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。

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アプリケーション

Electron ptychography for atomic-scale defect analysis in two-dimensional materials

April 1, 2026

アプリケーション

Real-space mapping of deuterated polymers using dark-field EELS

March 1, 2026

Energy filtered 4D STEM reveals short-range ordering motifs in semiconductors

アプリケーション

Energy filtered 4D STEMを用いた半導体中の短距離秩序モチーフの解明

December 1, 2025

Nanobeam strain analysis using STEMx system and your existing Gatan in-situ camera

アプリケーション

STEMxシステムと既設のGatan社製In-Situカメラを用いたナノビームひずみ解析

March 1, 2025

The effect of convergence angle on strain measurement precision

アプリケーション

ひずみ測定の精度に及ぼす収束角の影響

February 1, 2025

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メディアライブラリ

科学的発見の世界に浸ってみましょう。これまで見えなかったものを明らかにする印象的な電子顕微鏡像や、Gatanのテクノロジーが実際にどのように機能するかを紹介するビデオやチュートリアルをご覧ください。

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4D STEM and virtual aperture imaging

$4D‑STEM workflow visualization showing real-space image, diffraction patterns, signal analysis, and derived property maps$

A 4D STEM diffraction data cube collected using the Stela camera and STEMx system. Specimen: Au nanoparticles. Scan area: 176 x 218 pixels, Diffraction image size: 256 x 256 pixels. Dwell time: 5 ms. Color map showing grain orientations classified based on the angular position of the maximum diffraction peak per probe position using a DigitalMicrograph script.

4D STEM operating principle

Metro captures 4D STEM data with sharper detail and less background noise; it can collect a 128 x 128 (scan) x 512 x 512 (pattern) dataset in half a minute. This color image is a map of the brightest spot orientation and intensity from such a dataset. The material is boron nitride. The color hue in the map specifies the direction from center of the strongest spot in each diffraction pattern, while the brightness corresponds to the intensity of the peak.

Orientation map generated with STEMx OIM

The new STEMx OIM package brings orientation mapping analysis to the STEMx integrated software tools. This is done by comparing the diffraction pattern at each pixel position to a set of simulated patterns for all phases and orientations in your specimen. Orientation data can even be exported to the EDAX OIM Analysis software for further processing. Orientation map generated with STEMx OIM showing {111} texture of annealed Au thin film. Energy-filtered 4D STEM data was collected using a GIF Continuum with Stela system at 200 kV. Sample courtesy of J. Kacher, GA Tech.