Si-MoS2コアシェル構造の高スループット微分位相コントラスト(DPC)観察

Gatan社使用装置

DECTRIS社の技術を採用したStela^® ハイブリット-ピクセルカメラは、電子カウンティング処理による優れたシグナルノイズ比と共に広いダイナミックレンジの高フレームレート(>16000 fps)ディフラクションイメージングを実現します。STEMx^® システムはeaSIテクノロジーを活用し、検出器のフレームレートを走査電子プローブと正確に同期させることで、DigitalMicrograph^® ソフトウェアでの高スループットの4D走査透過像観察(STEM)データの取得と処理を実現しています。

研究の背景

遷移金属ダイカルコゲナイド(TMD)のコアシェル構造は、オプトエレクトロニクスや医学生物学、エネルギー、センサー技術などにおける将来の応用に向けて注目されています^{[1, 2]}。その材料は多層TMDがナノサイズのコアを覆っており、コアの構造を制御することでシェルの欠陥/物性/機能を設計出来る可能性をエンジニアに示唆しています。またコアシェル構造は、電気的特性や化学的特性を制御するための内部ひずみを与えるのに適した構造です。そこでコアシェル構造の内部電場分布を明らかにするためDPCを適用しました。