连续切片成像
3View System 3View 系统

使用系列连续切片扫描电子显微镜对 3D 超微结构进行自动切片和图像捕获处理。

阴极发光
MonoCL4 System MonoCL4 系统

全球领先的阴极荧光成像和光谱系统,兼容传统的场发射和低真空扫描电镜,并FIB/SEM 双束系统和场离子显微镜。

ChromaCL2 iBSED 探测器

为您的扫描电子显微镜带来彩色阴极发光成像功能。

扫描电镜探头和控制系统
DigiScan II System DigiScan II 系统

利用数字化的电子束控制和图像处理来提高数字成像系统的质量。

SmartEBIC Photovoltaics Image SmartEBIC 系统

利用电子束感生电流探测系统来表征您半导体样品的电学性能。

OnPoint BSE Detector OnPoint BSE 探测器

一款适用于 SEM 的高速低电压成像背散射电子探测器。