SEM 样品制备
PECS II System PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统

利用宽幅氩离子束对样品进行抛光和镀膜处理,从而得到高质量的SEM 成像和分析结果。

Ilion II System Ilion II 系统

采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品。