SEM 样品制备
laser ablation system microPREP System

Enables fast, clean, and efficient preparation of samples for microstructure characterization and failure analysis.

PECS II System PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统

利用宽幅氩离子束对样品进行抛光和镀膜处理,从而得到高质量的SEM 成像和分析结果。

Ilion II System Ilion II 系统

采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品。