連続断面観察イメージング
3View System 3Viewシステム

Serial block-face (SBF) SEM法を使用した3次元超微細構造のセクショニングおよび画像キャプチャを自動で行うシステムです。

カソードルミネッセンス
MonoCL4 MonoCL4システム

従来のW-SEM、FE-SEM、FIB-SEM及びイオン顕微鏡と互換性がある世界をリードするカソードルミネッセンスイメージングおよび分光システム。 

ChromaCL2 ChromaCL2システム

走査型電子顕微鏡の為のライブカラーカソードルミネッセンスイメージング。

MiniCL System MiniCLシステム

ほとんどの走査型電子顕微鏡や電子プローブマイクロアナライザと互換性があるカソードルミネッセンスイメージング。

SEM用検出器、ビームコントローラ
SmartEBIC Photovoltaics Image SmartEBICシステム

半導体材料の電気的特性や材料の欠陥等の情報を提供します。

DigiScan II System DigiScan IIシステム

デジタル画像の品質を高めるデジタルビーム制御および画像処理システム。

OnPoint Detector OnPoint 高感度反射電子検出器

SEM用 高速スキャン及び低加速電圧イメージングを可能にする高感度反射電子検出器。