连续切片成像
3View System 3View 系统

使用系列连续切片扫描电子显微镜对 3D 超微结构进行自动切片和图像捕获处理。

阴极发光
MonoCL4 System MonoCL4 系统

全球领先的阴极荧光成像和光谱系统,兼容传统的场发射和低真空扫描电镜,并FIB/SEM 双束系统和场离子显微镜。

ChromaCL2 系统

为您的扫描电子显微镜带来彩色阴极发光成像功能。

MiniCL System MiniCL 系统

可以搭配所有扫描电子显微镜或电子探针使用的阴极荧光探头。

扫描电镜探头和控制系统
DigiScan II System DigiScan II 系统

利用数字化的电子束控制和图像处理来提高数字成像系统的质量。

SmartEBIC Photovoltaics Image SmartEBIC 系统

利用电子束感生电流探测系统来表征您半导体样品的电学性能。

OnPoint BSE Detector OnPoint BSE 探测器

一款适用于 SEM 的高速低电压成像背散射电子探测器。

SEM 样品制备
laser ablation system microPREP System

Enables fast, clean, and efficient preparation of samples for microstructure characterization and failure analysis.

PECS II System PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统

利用宽幅氩离子束对样品进行抛光和镀膜处理,从而得到高质量的SEM 成像和分析结果。

Ilion II System Ilion II 系统

采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品。

SEM 样品台
Cooling Stages 冷冻样品台

采用液氦和液氮样品台来开展低温或温度相关研究,从而更好地了解您的电气和电子材料样品 。

Murano heating stage 原位实验样品台

一系列专门设计的加热和拉伸实验样品台,专为原位实验。

SEM 分析
3D Visualization Software 3D 可视化软件

采用体积渲染、等值面、正交面等多种方法探索 3D 数据。