TEM 和 STEM 产品

Gatan Microscopy Suite 软件目前提供完整的原位控制和数据处理功能

专为室温下的 EDS 分析工作而优化

可用于低温观察原位相变的冷冻样品杆

适用于含水样品的冷冻传输样品杆

在真空环境中保存样品和样品杆，重新获得冷冻样品杆杜瓦瓶的高真空

尽量减少 TEM 中样品附近的污染

单倾和双倾真空转移样品杆适用于可控大气条件。

可直接观察相变过程、成核现象、生长和溶解过程的单倾和双倾加热样品杆

以可控的速率进行拉伸试验

适用于三维重构应用的高倾角度和双向样品杆

可以同时容纳多个样品，从而提高工作效率。

高通量的能量过滤器，从 EELS 和 EFTEM 实验获得详尽的样品信息。

专用、稳定的电子能量损失谱仪。

结合了低畸变的GIF成像过滤系统和K2 Summit直接探测相机，最大化冷冻电镜的成像分辨率和对比度。

最高性能的直接探测原位实验相机，适用于表征加热、催化、机械变形、STEM 衍射、电学测试和化学反应实验中的动态变化过程。

1420 万像素照相机，已针对单一微粒结构生物学、低温断层扫描术以及高速动态和原位电子显微术加以优化。

荣获 Microscopy Today 2015 年度创新大奖。一个适用于所有 TEM 应用领域的全能相机，可记录 1600 万像素图像和视频数据。

光纤耦合的 CCD 相机， 适用于要求高灵敏度和高分辨率的应用。

针对电子能量损失谱 (EELS) 的采集优化了的 STEM 高角度环形暗场 (HAADF)、环形暗场 (ADF) 以及明场和暗场 (BF/DF) 探测器。

从配备扫描透射模式的电子显微镜（STEM）上采集样品详细分析信号的系统方案。

一款功能强大的工具，可以为您现有的 Gatan 原位照相机添加 4D STEM 衍射功能

深入了解样品的光学和电子学特性。

同步相机图像与原位设备中的外场数据。

自动进行调焦、像散矫正与合轴。

通过样品台和电子光学系统的自动控制来实现图像的无缝拼接。

通过自动调整 TEM 显微镜调焦、消像散和电子束倾斜的关键成像参数来为 HREM 的操作提供便利。

用于实现选区电子衍射花样 (SAED) 和高分辨晶格像的自动化分析组件。

具有傅立叶光学模拟功能，简化离轴全息图的数据处理。

一个基于电子能量损失谱理论模型的模拟计算软件，可以帮助用户在开展实验之前预分析试验结果，对实验参数进行优化。

自动实现多元素 EELS 和 EFTEM 数据的采集。

AutoFilter 软件模块简化了从过滤器校准到数据采集的所有步骤。

支持在TEM、STEM 或 EFTEM 模式下采集样品的系列倾转图像。

Enables fast, clean, and efficient preparation of samples for microstructure characterization and failure analysis.

精密离子减薄仪用于高质量透射电镜样品的制备，它可精确定位减薄位置并对工艺参数进行精确控制

预先切薄以接近电子透明度的快速可靠的机械方法，可显著减少离子研磨时间和薄度不均现象。

是针对金属、合金等塑性材料制备透射电镜 (TEM) 样品的首选方法

预先减薄和抛光样品，以减少离子减薄的时间并提高样品质量

以超声波切割脆性材料，以得到尺寸准确的3mm标准透射电镜样品或其他独特形状的样品。

半自动式快速冷却制样装置

高级等离子清洗仪可有效除去 TEM 和 SEM 样品上的碳氢污染物。

适合用于制备半导体器件、薄膜和复合材料截样品的制样工具

配合您的数字成像相机和周边组件来支持电子显微镜的各种应用，包括断层扫描术、原位、光谱和衍射成像等应用。

将三维序列倾转图像对齐，继而进行三维重建。

以较于传统方法快 100 倍的速度重建三维倾斜序列。