冷却ホルダー

相転移などのその場低温観察に最適化

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メリット: 

透過型電子顕微鏡(TEM)冷却ホルダーは、相転移のその場低温観察が必要な用途や炭素のマイグレーションによるコンタミネーションを軽減する目的で使用されます。

  • さまざまな分析手法の際に不要な熱影響を軽減し、コンタミネーションと質量損失を低減することによってエネルギー分散型X線分光法(EDS)および電子エネルギー損失分光法(EELS)を容易化
  • EDS分析向けの構成の場合、ホルダー先端部は試料と検出装置の間に信号を遮蔽する部分がカットオフされ、EDS分析におけるシャドーイングを軽減
液体窒素冷却ホルダー
モデル番号 最低使用温度 ベリリウム製試料保持部 試料位置 試料固定 モーター駆動 ファラデーカップ 電気フィードスルー最大数(オプション)
613 -170 °C
未満
αチルト Hexring
メカニズム
  オプション 6
636 -170 °C
未満
α、βチルト Hexring
メカニズム
βチルト オプション 0

 

液体ヘリウム冷却ホルダー
モデル番号 最低使用温度 ベリリウム製試料保持部 試料位置 試料固定 モーター駆動 電気フィードスルー最大数(オプション)
HCHST3008 20 K オプション αチルト クランプ
リング1
  4
HCHDT3010 20 K オプション α、βチルト クランプ
リング1
βチルト 42
ULTST 6 K オプション αチルト クランプ
リング1
  4
ULTDT 6 K オプション α、βチルト クランプ
リング1
βチルト 42

多機能冷却ホルダー
モデル番号 最低使用温度 ベリリウム製試料保持部 試料位置 試料固定 特別機能 モーター駆動 電気フィードスルー最大数
671 -170 °C
未満
  αチルト Hexlokクランプ
スクリュー
引張り 引張り 0
CHVT3007 -170 °C
未満
オプション αチルト クランプ
リング1
真空
トランスファー
  0
1 分析構成ではHexringメカニズムが使用されます。
2 電気フィードスルーを有する構成はこのホルダー向けの特注製作です。
3 電気フィードスルーがホルダー構成に含まれます。
 

Publications

Journal of Colloid and Interface Science
2013

Zoppi, A.; Trigari, S.; Giorgetti, E.; Muniz-Miranda, M.; Alloisio, M.; Demartini, A.; Dellepiane, G.; Thea, S.; Dobrikov, G.; Timtcheva, I.

Journal of Materials Science: Materials in Medicine
2013

Vargas, G. E.; Haro Durand, L. A.; Cadena, V.; Romero, M.; Mesones, R. V.; Mačković, M.; Spallek, S.; Spiecker, E.; Boccaccini, A. R.; Gorustovich, A. A.

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