連続断面観察イメージング
3View System 3Viewシステム

Serial block-face (SBF) SEM法を使用した3次元超微細構造のセクショニングおよび画像キャプチャを自動で行うシステムです。

カソードルミネッセンス
MonoCL4 System MonoCL4システム

従来のW-SEM、FE-SEM、FIB-SEM及びイオン顕微鏡と互換性がある世界をリードするカソードルミネッセンスイメージングおよび分光システム。 

ChromaCL2システム

走査型電子顕微鏡の為のライブカラーカソードルミネッセンスイメージング。

MiniCL System MiniCLシステム

ほとんどの走査型電子顕微鏡や電子プローブマイクロアナライザと互換性があるカソードルミネッセンスイメージング。

SEM用検出器、ビームコントローラ
SmartEBIC Photovoltaics Image SmartEBICシステム

半導体材料の電気的特性や材料の欠陥等の情報を提供します。

DigiScan II System DigiScan IIシステム

デジタル画像の品質を高めるデジタルビーム制御および画像処理システム。

OnPoint BSE Detector OnPoint 高感度反射電子検出器

SEM用 高速スキャン及び低加速電圧イメージングを可能にする高感度反射電子検出器。

SEM試料作製
laser ablation system microPREP System

Enables fast, clean, and efficient preparation of samples for microstructure characterization and failure analysis.

PECS II System PECS IIシステム

SEMのイメージングおよび分析技術のための試料の研磨およびコーティング用に設計されたブロードアルゴンイオンビームシステム。

Ilion II System Ilion IIシステム

試料の断面、表面加工が出来、その加工面を低加速電圧で処理することにより、最適なSEM用および分析用の試料を作製することが出来ます。

SEM試料ステージ
Cooling Stages 冷却ステージ

電気および電子材料等の低温観察や温度依存性の研究を目的としたヘリウムおよび液体窒素ステージ。 

Murano heating stage In-Situステージ

in-situ実験を実現するために専用に設計された加熱および引張ステージです。

SEM分析
3D Visualization Software 3D可視化ソフトウェア

ボリュームレンダリング、等値面、直交スライスなどを用いて3Dデータを解析します。