SEM試料作製
laser ablation system microPREP System

Enables fast, clean, and efficient preparation of samples for microstructure characterization and failure analysis.

PECS II System PECS IIシステム

SEMのイメージングおよび分析技術のための試料の研磨およびコーティング用に設計されたブロードアルゴンイオンビームシステム。

Ilion II System Ilion IIシステム

試料の断面、表面加工が出来、その加工面を低加速電圧で処理することにより、最適なSEM用および分析用の試料を作製することが出来ます。