
材料の最適なX線元素分析のためにMicro-XRFとSEM-EDSを相関させる方法
September 29, 2023
比類のない柔軟性と使いやすさを備え、非破壊で高性能な元素分析を実現します。

EDAX® Orbis™ II マイクロフォーカス蛍光X線 (micro-XRF) システムは、比類のない柔軟性と使いやすさを備え、非破壊で高性能な元素分析を実現します。マイクロXRFのあらゆるアプリケーションにおいて卓越した性能を発揮するように設計されたOrbis IIは、極小粒子から大型で複雑な試料まで、あらゆる試料を迅速かつ正確に分析することを可能にします。EDAX Orbis IIで、精度と性能が融合した、次世代のマイクロXRF分析を体験してください。
カスタムX線ウィンドウテクノロジーにより、軽元素の検出が可能
独自の同軸観察とX線光学系により、特定の領域を正確にターゲットにし、隣接領域からのX線干渉を排除
スペクトル収集を2.5倍、スペクトルマップ速度を3倍以上高速化することで、スループットを最大化
プログラム可能な自動実行ルーチンによりワークフローを合理化し、生産性を向上させ、一貫した高品質な結果を実現
Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。
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