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EDAX Velocity EBSD検出器シリーズ

 

実際の材料に対して最高のインデックス性能を備えた高速電子後方散乱回折 (EBSD) マッピングを提供します

EDAX Velocity EBSD System

メリット

Velocity™ 超高速動作型EBSD検出器シリーズは 実サンプルで最高の指数付け精度で最速のマッピングを実現します。CMOSセンサーを搭載したVelocityは、高速、高感度、低ノイズを兼ね備えています。

 

Collects EBSD maps in minutes with indexing speeds up to 6,700 ipps with up to 99% indexing success rates for efficient scanning electron microscope (SEM) use, in-situ experiments, and 3D EBSD applications

最大6,700 ippsのインデックス速度と最大99%のインデックス成功率により、わずか数分でEBSDマップを取得します。

Produces orientation precision of less that 0.1° for clear characterization of deformed microstructures with standard indexing routines

標準的なインデクシングルーチンを用いて、変形微細構造を明確に特徴づけるための、0.1°未満の配向精度を実現します。

Shortens your time to results by collecting data up to 18% faster than other phosphor-based EBSD detectors

他の蛍光体ベースのEBSD検出器と比較して最大18%高速にデータを収集することで、結果が得られるまでの時間を短縮します。

 

データシート

用途

Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。

リソース

電子顕微鏡を支えるツール、データ、そして知見を探求しましょう。アプリケーションや周期表のリソースから、専門家のブログやニュースレターまで、幅広い情報を提供しています。

Blog - Discover cutting-edge insights, expert perspectives, and practical applications in electron microscopy.

ブログ

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FAQs 

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