Metro In-Situ Counting Cameras

モデル 1130, 1133

これまでに無い像観察、電子線回折、その場観察を実現する最先端の電子カウンティングカメラ

メリット

これまでに無い像観察、電子線回折、その場観察を実現する最先端の電子カウンティングカメラがMetro^®です。電子カウンティング機能が利用可能となることで、非常に電子線照射に敏感な試料の観察や低電子線照射条件での研究が実現されました。これは単に観察結果のクオリティを高めるにとどまらず、二次元材料や電池、触媒、ナノチューブ、ポリマー、有機/生物材料といった研究の限界を押し広げます。

ご使用中のTEMで、より低い電子線照射密度での観察と微弱な信号の検出を実現：

120 – 300 kV (Metro 300、モデル1133)
60 – 200 kV (Metro、モデル1130)

Images the most beam-sensitive specimens

最も電子線照射に敏感な試料の像観察が可能

Captures fine details, even at the lowest dose rates

厳しい電子線照射条件においても、微細な像の情報を記録

enhanced visibility of patterns/features

バックグラウンド信号がほぼ存在しない高いクオリティの電子線回折図形が観察可能

Stores in-situ, 2k video at ≤41 fps (Metro) and ≤50 fps (Metro 300)

2kピクセルのその場観察動画を≤41 fps (Metro)、≤50 fps (Metro 300)で記録可能

OneView^® ISカメラで慣れ親しまれた簡単で強力なDigitalMicrograph^®のインターフェイスを使用したデータ取得

With one click, corrects for drift with automatic sub-frame alignment during image capture

ワンクリックで選択可能な各フレームの自動アライメントによるデータ取得時のドリフト補正機能

データシート

Metro In-Situ Counting Cameras

用途

Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。

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Atomic resolution imaging of hexagonal water ice

アプリケーション

六方晶氷の原子分解能観察

January 1, 2026

Imaging 2D materials at low kV with Metro

アプリケーション

Metroカメラを用いた二次元材料の低加速電圧観察

August 1, 2024

Acquiring counted 4D STEM with the Metro camera

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Metroカメラを用いた電子カウンティング4D STEMデータの取得

August 1, 2024

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Imaging extremely beam-sensitive materials with Metro

August 1, 2024

Monitoring and quantification of beam damage via low-dose continuous imaging

アプリケーション

低電子線照射量連続観察を用いた電子線ダメージの評価と定量化

July 1, 2024

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メディアライブラリ

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Low dose imaging of a beam-sensitive Zeolite sample

Detail is observed out to the Nyquist frequency of the camera, even at a dose rate of 0.74 e-/Å2/s and a total dose of just 25 e-/Å2, allowing a large field of view to be imaged. This is made possible by electron counting.

Metro camera for MicroED/3DED A three-dimensional electron diffraction dataset was collected with the Metro camera from a PPEA crystalline sample (courtesy of Dr. Tatiana Gorelik).

Metro 2k image of the same field of view as a OneView image, showing that the lattice fringes are still clearly resolved, due to the high DQE and minimal blurring of the Metro.

Metro captures 4D STEM data with sharper detail and less background noise; it can collect a 128 x 128 (scan) x 512 x 512 (pattern) dataset in half a minute. This color image is a map of the brightest spot orientation and intensity from such a dataset. The material is boron nitride. The color hue in the map specifies the direction from center of the strongest spot in each diffraction pattern, while the brightness corresponds to the intensity of the peak.