F1-GIF システム

材料に対する要求が複雑化する事により、測定範囲、分解能、ドーズ 量、あるいはワークフローの効率化という点において妥協の許されな い時代が到来しています。そのような中、限界に挑む科学者のために 開発されたF1-GIF™ システムは、電子エネルギー損失分光法(EELS) におけるあらゆる要求を満たした測定結果を生み出し、化学的および 構造的な知見を包括的に提供し、画期的な研究を妥協なく加速する ことで、材料科学の新たな時代を切り拓きます。

• トレードオフ無く広範囲・高分解能を同時に満たした測定 – 1回の 測定で広範なエネルギー範囲と微細なスペクトル詳細を捉える事 ができ、測定範囲と精度のどちらかをあきらめる必要がありません。
• 元素の全体像を把握 – 複雑な多元素からなる材料においても、複 数のエッジで確実な化学的同定を行いつつ解析します。
• 加速電圧によらないシームレスなオペレーション – 単一の高画素 数直接検出器で、30～300 kVにわたる低加速から高加速電圧の分 析に対応します。
• 試料ダメージを抑えた迅速な測定結果 – 直接検出と線量分割測定 を用い、高速なフレーム取得と信号積算、ドリフト補正を行い、電子 線ダメージに弱い試料を保護します。
• 統合されたマルチモーダル解析 – EELSと4D STEM測定結果を相関 付け、組成、化学状態、構造、方位、歪みや局所ポテンシャルを結び つける5D STEMワークフローを実現します。

データシート