走査型電子顕微鏡によるリチウムの定量マッピング

使用装置

Gatan社製OnPoint™ 検出器とEDAX^® 社製Octane Elite Super EDSシステムを走査型電子顕微鏡(SEM)でリチウムのマッピングのために組み合わせて使用しました。

背景

リチウムを含む化合物や合金は、省エネルギーへの取り組みの上で必要不可欠な材料です。これらの材料の研究開発において飛躍的な進歩を遂げてきましたが、恐らく最も印象的な点は、リチウムの分布をマイクロスケールで明らかにし定量化する確実な手法無しにこれらの多くを実現してきたことです。バルク材料中のリチウムの存在を定量化する手法は、微小分析において未だに達成することが困難な壁のひとつです。なぜなら原子番号4よりも小さな元素は、エネルギー分散型X線分析(EDS)においてほとんど検出不可能なためです。しかしながら、SEMを用いたLiの定量化が、EDSと定量反射電子像観察(qBEI)を基にした強度差組成決定法(Composition by difference method)を用いることで可能であることが報告されました[J.A. Österreicher et al., Scripta Materialia 194 (2021) 113664]　今回、MgLiAl合金の定量、空間分布の元素マップのための強度差組成決定法を適用しました。