OnPoint 高感度反射電子検出器

モデル 400, 401

SEM用高速スキャン及び低加速電圧イメージングを可能にする高感度反射電子検出器。

メリット

OnPoint^® 検出器は、軽金属、ポリマー、プラスチック、生体材料の理解を深めるために、これまでにない感度と速度を実現する後方散乱電子（BSE）検出器のスタンダードです。低加速電圧に最適化された検出器を使用することで、原子番号（Z）の低い元素、コーティングされていない生体試料、大容量3Dデータセットの研究能力が向上します。

Resolves features distorted by charging or beam damage

チャージやビームダメージで歪んだ特徴を解消

低加速電圧で撮影することで、電荷の蓄積を抑え、デリケートなサンプルへのダメージを防ぎます

大容量3Dデータを迅速に取得

広域の画像や3Dデータを最大6倍の速さで取得します

元素番号の低い元素の差別化

最も高いS/N比（SNR）を実現し、原子番号の近い元素の区別を可能にします

Provides highest BSE collection efficiency

最高のBSE収集効率を実現

他の検出器では見逃してしまう電子を捕捉し、検出システムのノイズを最小限に抑えることで、より高いSNRの画像を得ることができます

高精度な定量を実現

最も広いダイナミックレンジの画像を形成し、合金や化合物中の元素組成を正確に把握することができます

データシート

OnPoint 高感度反射電子検出器

用途

Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。

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Identifying titanium hydride in a titanium alloy using EBSD and quantitative backscatter imaging

アプリケーション

EBSDと定量反射電子像を用いたチタン合金中のチタン水素化合物の同定

May 1, 2025

Line graph displaying electron backscatter coefficient curves for element identification inside a scanning electron microscope

アプリケーション

走査型電子顕微鏡（SEM）の反射電子による定量分析

July 1, 2024

Revealing the lithium content in aerospace alloys"

アプリケーション

航空宇宙用合金中のリチウム含有量を明らかにする

July 1, 2024

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走査型電子顕微鏡によるリチウムの定量マッピング

July 1, 2024

Lithium quantification using the composition-by-difference method

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強度差組成決定法を使用したリチウムの定量分析

July 1, 2024

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メディアライブラリ

科学的発見の世界に浸ってみましょう。これまで見えなかったものを明らかにする印象的な電子顕微鏡像や、Gatanのテクノロジーが実際にどのように機能するかを紹介するビデオやチュートリアルをご覧ください。

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OnPoint detector minimizes charging and beam damage

Image shows that the OnPoint BSE detector can resolve features at 1.1 kV (right) that were previously distorted (e.g., black spots) by charging or beam damage at 2.2 kV (left). Sample: Mouse cerebellum. Image courtesy of T. Deerinck NCMIR/UCSD.

OnPoint increases 3View imaging speed four-fold

Preserves synaptic vesicle under low kV conditions

Demonstrates how low kV conditions can preserve and discriminate fine features, such as synaptic vesicles. Sample: 2 kV, 0.2 nm pixels, 24k x 24k image, 1 µs dwell time. Image courtesy of T. Deerinck NCMIR/UCSD.

$Secondary electron image and elemental metal fraction maps (by wt. %) of the same region of the MgLiAl alloy; white pixels are regions excluded from the analysis due to influence of topography.$

Secondary electron image and elemental metal fraction maps (by wt. %) of the same region of the MgLiAl alloy; white pixels are regions excluded from the analysis due to influence of topography.

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