
Spherical Index法を用いたショットピーニング加工を施したチタン合金の解析
April 11, 2024
データの詳細な調査と理解を可能にする、微細構造の可視化および解析機能を備えた唯一の完全統合型EBSDソフトウェア。

EDAX® OIM Analysis™ – 電子線回折結晶方位解析(EBSD) マッピングデータを理解するための、最高の微細構造可視化および解析ツールです。ワンクリックで、この強力なツールがどのように大規模な多次元データセットのマッピングを行うか、また最も包括的な分析ポートフォリオから困難な材料の特性を引き出すかをご覧ください。OIM Analysisは、材料特性に関するこれまでにない洞察を提供するだけでなく、 初心者から熟練ユーザーまでEBSD解析を身近なものにします。
Quick-Genの事前定義済み分析ツールとテンプレートを使用し、ワンクリックで最も一般的な質問への回答を生成します。
変形した微細組織を鮮明に可視化し、複雑な材料を正確に解析することを可能にします。
対話型の分析インターフェースにより、マイクロストラクチャにおける主要な寄与因子や外れ値を見つけ出します。
利用可能な最大級の分析ツールボックスを駆使し、困難なサンプルや従来は使用不可能であったサンプルを測定します。
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