
Electron ptychography for atomic-scale defect analysis in two-dimensional materials
April 1, 2026
最先端の4D STEMを実現する DigitalMicrograph に完全に統合されたハイブリットピクセル検出器
DigitalMicrograph® ソフトウェアから全ての操作が可能な、最先端の電子線回折実験のための唯一のハイブリット-ピクセル電子線検出器がStela®です。ノイズを最小化する電子カウンティング機能と、最高のダイナミックレンジを実現するデジタル化処理機能を備えたDECTRIS社製ハイブリット-ピクセル電子線検出器をStelaは採用しています。
ひとつのプラットフォームで多くのアプリケーションに対応
妥協のない電子線回折実験のために
Gatanで電子顕微鏡の真価を解き放ちましょう。最先端のアプロケーション事例を探求し、エキスパートが講師を務めるウェビナーに参加し、科学の飛躍的な進歩を後押しする詳細なアプリケーションノートを通じて新たな知見を得てください。
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