加熱その場観察用ホルダー

微細構造の相変化、核生成、成長、および溶解の各過程を直接観察できるシングルおよびダブルチルト加熱ホルダー

メリット 研究の着目点 メディアライブラリ パブリケーション リソース トップに戻る
メリット: 

バルク加熱ホルダー

  • 大型の加熱炉と水冷式の試料ホルダー軸を採用し、試料ホルダー先端部の温度を精密に制御
  • 特殊なセラミック製の加熱炉支持体を使用し、加熱炉から試料ホルダー先端部への熱損失を抑制
Gatanモデル番号 最高
温度1 (°C)
加熱炉 試料傾斜 試料固定方法 最大電気フィードスルー数
628 1300

タンタル

α軸傾斜 Hexring®
メカニズム
6
628 900 インコネル α軸傾斜 Hexring
メカニズム
6
652 1000 タンタル α、β軸傾斜 Hexring
メカニズム
2 – 62
652 850 インコネル α、β軸傾斜 Hexring
メカニズム
2 – 62
1狭いポールピースギャップの場合、628の最高温度はタンタル製加熱炉で1000 °C、インコネル製加熱炉で700°Cに、また652の最高温度はタンタル製加熱炉で900 °C、インコネル製加熱炉で700°Cに制限されます。
2JEOL UHRの場合はオプションで2~6の選択が可能、その他の電子顕微鏡の場合は最大で2。

パブリケーション

Nature
2022

Hong, J.; Bae, J. -H.; Jo, H.; Park, H. -Y.; Lee, S.; Hong, S. J.; Chun, H.; Cho, M. K.; Kim, J.; Kim, J.; Son, Y.; Jin, H.; Suh, J. -Y.; Kim, S. -C.; Roh, H. -K.; Lee, K. H.; Kim, H. -S.; Chung, K. Y.; Yoon, C. W.; Lee, K.; Kim, S. H.; Ahn, J. -P.; Baik, H.; Kim, G. H.; Han, B.; Jin, S.; Hyeon, T.; Park, J.; Son, C. Y.; Yang, Y.; Lee, Y. -S.; Yoo, S. J.; Chun, D. W.

Ceramics International
2021

Lin, Z.; Wu, C.; He, H.; Jiang, S.; Ren, F.; Cao, L.; Huang, Z.; Zhang, J.

Microscopy and Microanalysis
2021

Singh, M. K.; Ghosh, C.; Miller, B.; Carter, C. B.

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