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Monarc CL 探测器 重新定义SEM上阴极荧光的表征能力。 |
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ChromaCL2 iBSED 探测器 为您的扫描电子显微镜带来彩色阴极发光成像功能。 |
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DigiScan 3 系统 利用数字化的电子束控制和图像处理来提高数字成像系统的质量。 |
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OnPoint BSE 探测器 一款适用于 SEM 的高速低电压成像背散射电子探测器。 |
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Cipher System Cipher® – The first and only system that quantitatively reveals the distribution of lithium in scanning electron microscopes |
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PECS II 精密离子刻蚀与镀膜系统 利用宽幅氩离子束对样品进行抛光和镀膜处理，从而得到高质量的SEM 成像和分析结果。 |
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Solarus II 系统 新一代等离子清洗设备，去除TEM与SEM样品以及样品杆的碳氢化合物污染。 |
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Ilion II 系统 采用低加速电压抛光制备无损的 SEM 截面样品。 |
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冷冻样品台 采用液氦和液氮样品台来开展低温或温度相关研究，从而更好地了解您的电气和电子材料样品 。 |
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Murano 原位实验样品台 专为原位研究设计的加热样品台 |
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Gatan Microscopy Suite Software The industry standard software for electron microscope experimental control and analysis. |