Measure structural changes that affect electronic conductivities and lead to irreversible phase transformations that decrease your product’s energy output.
Read more...
Streamline specimen preparation and analysis to determine texture, sediment source, degree of compaction, diagenetic history ratio of authigenic, and detrital minerals.
Read more...
The Center for Integrated Nanotechnologies (CINT) offers world-leading scientific expertise and specialized capabilities to create, characterize, and integrate nanostructured materials at a range of length scales,...
Holzinger, A.; Obwegeser, S.; Andosch, A.; Karsten, U.; Oppermann, C.; Ruth, W.; van de Meene, A.; Goodman, C. D.; Lütz-Meindl, U.; West, J. A
Liting Yang, L.; Li, X.; Pei, K.; You, W.; Liu, X.; Xia, H.; Wang, Y.; Che, R.
Molnár, Z.; Kiss, G. B.; Molnár, F.; Váczi, T.; Czuppon, G.; Dunkl, I.; Zaccarini, F.; Dódony, I.
Ledesma, B.; Beltramone, A.
Giusto, P.; Cruz, D.; Heil, T.; Tarakina, N.; Patrini, M.; Antonietti, M.
Kabir, D.; Forhad, T.; Ghann, W.; Richards, B.; Rahman, M. M.; Uddin, Md. N.; Rakib, R. J.; Shariare, M. H.; Chowdhury, F. I.; Rabbani, M. M.; Bahadur, N. M.; Uddin, J.
Reddy, K. H. P.; Kim, B. -S.; Lam, S. S.; Jung, S. -C.; Song, J.; Park, Y. -K.
Ali, S. M.; Ramay, S. M.; Mahmood, A.; ur Rehman, A.; Ali, G.; Ali, S. D.; Uzzaman, T.
Li, H. -K.; de Souza, J. P.; Zhang, Z.; Martis, J.; Sendgikoski, K.; Cumings, J.; Bazant, M. Z.; Majumdar, A.
He, L.; Ji, Y.; Ren, S.; Zhao, L.; Luo, H.; Liu, C.; Hao, Y.; Zhang, L.; Zhang, L.; Ren, X.
Blades, M. L.; Alessio, B. L.; Collins, A. S.; Foden, J.; Payne, J. L.; Glorie, S.; Holden, P.; Thorpe, B.; Al-Khirbash, S.
Wang, G.; Wang, H.; Wen, J.
Adam, R. E.; Chalangar, E.; Pirhashemi, M.; Pozina, G.; Liu, X.; Palisaitis, J.; Pettersson, H.; Willander, M.; Nur, O.
KAWAKAMI, T.; HORIE, K.; HOKADA, T.; HATTORI, K.; HIRATA, T.
Jenei, I. Z.; Dassenoy, F.; Epicier, T.; Khajeh, A.; Martinic, A.; Uy, D.; Ghaednia, H.; Gangopadhyay, A.
Su, T.; Hood, Z. D.; Naguib, M.; Bai, L.; Luo, S.; Rouleau, C. M.; Ivanov, I. N.; Ji, H.; Qin, Z.; Wu, Z.
Li, X.; Zhang, Z.; Yao, C.; Lu, X.; Zhao, X.; Ni, C.
Persson, I.; Halim, J.; Lind, H.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Näslund, L. -A.; Darakchieva, V.; Palisaitis, J.; Rosen J.; Persson, P. O. A.
Persson, I.; Halim, J.; Lind, H.; Hansen, T. W.; Wagner, J. B.; Näslund, L. -A.; Darakchieva, V.; Palisaitis, J.; Rosen J.; Persson, P. O. A.
Jung, H. J.; Kim, D.; Kim, S.; Park, J.; Dravid, V. P.; Shin, B.
Zhang, Z.; Guo, H.; Ding, W.; Zhang, B.; Lu, Y.; Ke, X.; Liu, W.; Chen, F.; Sui, M.
Roest, R.; Lomas, H.; Hockings, K.; Mahoney, M. R.
McDowell, C.; Abdelsamie, M.; Zhao, K.; Smilgies, D. -M.; Bazan, G. C.; Amassian, A.
Kumar , N.; Auffan, M.; Gattacceca, J.; Rose, J.; Olivi, L.; Borschneck, D.; Kvapil, P.; Jublot, M.; Kaifas, D.; Malleret, L.; Doumenq, P.; Bottero, J. Y.
Marrero-López, D.; Canales-Vázquez, J.; Ruiz-Morales, J. C.; Núñez, P.
Singh, R.; Dong, H.; Liu, D.; Zhao, L.; Marts, A. R.; Farquhar, E.; Tierney, D. L.; Almquist, C. B.; Briggs, B. R.
Usuki, T.; Lan, C. Y.; Tran, T. H.; Pham, T. D.; Wang, K. L.; Shellnutt, G. J.; Chung, S. L.
Hong, S.; Schaber, C. F.; Dening, K.; Appel, E.; Gorb, S. N.; Lee, H.
Zolensky, M. E.; Zega, T. J.; Yano, H.; Wirick, S.; Westphal, A. J.; Weisberg, M. K.; Weber, I.; Warren, J. L.; Velbel, M. A.; Tsuchiyama, A.; Tsou, P.; Toppani, A.; Tomioka, N.; Tomeoka, K.; Teslich, K.; Taheri, M.; Susini, J.; Stroud, R.; Stephan, T.; Stadermann, F. J.; Snead, C. J.; Simon, S. B.; Simionovici, A.; See, T. H.; Robert, F.; Rietmeijer, F. J. M.; Rao, W.; Perronnet, M. C.; Papanastassiou, D. A.; Okudaira, K.; Ohsumi, K.; Ohnishi, I.; Nakamura-Messenger, K.; Nakamura, T.; Mostefaoui, S.; Mikouchi, T.; Meibom, A.; Matrajt, G.; Marcus, M. A.; Leroux, H.; Lemelle, L.; Le, L.; Lanzirotti, A.; Langenhorst, F.; Krot, A. N.; Keller, L. P.; Kearsley, A. T.; Joswiak, D.; Jacob, D.; Ishii, H.; Harvey, R.; Hagiya, K.; Grossman, L.; Grossman, J. N.; Graham, G. A.; Gounelle, M.; Gillet, P.; Genge, M. J.; Flynn, G.; Ferroir, T.; Fallon, S.; Ebel, D. S.; Dai, Z. D.; Cordier, P.; Clark, B.; Chi, M.; Butterworth, A. L.; Brownlee, D. E.; Bridges, J. C.; Brennan, S.; Brearley, A.; Bradley, J. P.; Bleuet, P.; Bland, P. A.; Bastien, R.
Donius, A. E.; Obbard, R. W.; Burger, J. N.; Hunger, P. M.; Baker, I.; Doherty, R. D.; Wegst, U. G. K.
Mussi, A.; Cordier, P.; Demouchy, S.; Vanmansart, C.
Ng, A.; Poplawsky, J. D.; Li, C.; Pennycook, S. J.; Rosenthal, S. J.
Walters, C. C.; Kliewer, C. E.; Awwiller, D. N.; Rudnicki, M. D.;Passey, Q. R.; Lin, M. W.
Reduction and immobilization of hexavalent chromium by microbially reduced Fe-bearing clay materials
Bishop, M. E.; Glasser, P.; Dong, H.; Arey, B. W.; Kovarik, L.
Carretero-Genevrier, A.; Oro-Sole, J.; Gazquez, J.; Magén, C.; Miranda, L.; Puig, T.; Obradors, X.; Ferain, E.; Sanchez, C.; Rodriguez-Carvajal, J.; Mestres, N.
Wang, X.; Baker, I.
Marris, H.; Deboudt, K.; Flament, P.; Grobéty, B.; Gieré, R.
Kim, J. M.; Kim, Y.; Shim, J. H.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Ahn, J. P.; Kim, G. H.; Cho, Y. W.
Golding, N.; Burks, C. E.; Lucas, K. N.; Fortt, A. L.; Snyder, S. A.; Schulson, E. M.
Clark, L.; Oró-Solé, J.; Knight, K. S.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Ampelli, C.; Passalacqua, R.; Genovese, C.; Perathoner, S.; Centi, G.; Montini, T.; Gomba, V.; Jaen, J. J. D.; Fornasiero, P.
Tang, W.; Picraux, S. T.; Huang, J. H.; Liu, X.; Tu, K. N.; Dayeh, S. A.
Lyubutin, I. S.; Lin, J. F.; Gavriliuk, A. G.; Mironovich, A. A.; Ivanova, A. G; Roddatis, V. V.; Vasiliev, A. L.
Collins, S. E.; Delgado, J. J.; Mira, C.; Calvino, J. J.; Bernal, S. B.; Chiavassa, D. L.; Baltanás, M. A.; Bonivardi, A. L.
Cosandeya, F.; Suc, D.; Sinaa, M.; Pereiraa, N.; Amatuccia, G. G.
Shao, Z.
Chang, H.; Yoon, S.; Seong, T.; Yu, T.; Yuo, Y.; Ahn, J.
Tan, H.; Turner, S.; Yücelen, E.; Verbeeck, J.; Van Tendeloo, G.
Hong, X.; Luo, Z.; Batteas, J. D.
Pérez, H.; Navarro, P.; Delgado, J. J.; Montes, M.
Montagnat, M.; Blackford, J. R.; Sandra Piazolo, S.; Arnaud, L.; Lebensohn, R. A.
Janbroers, S.: Crozierc, P. A.; Zandbergen, H. W.; Kooyman, P. J.
Crozier, P. A.; Chenna, S.
de la Peña, F.; Berger, M. H.; Hochepied, J. F.; Dynys, F.; Stephan, O.; Walls, M.
Lee, H. S.; Lee, Y. S.; Suh, J. Y.; Kim, M.; Yu, J. S.; Cho, Y. W.
Inceesungvorn, B.; López-Castro, J.; Calvino, J. J.; Bernal, S.; Meunier, F. C.; Hardacre, C.; Griffin, K.; Delgado, J. J.
Carretero-Genevrier, A.; Gázquez, J.; Idrobo, J. C.; Oró, J.; Arbiol, J.; Varela, M.; Ferain, E.; Rodríguez-Carvajal, J.; Puig, T.; Mestres, N.; Obradors, X.
Holmberg, V. C.; Collier, K. A.; Korgel, B. A.
Krivanek, O. L.; Dellby, N.; Murfitt, M. F.; Chisholm, M. F.; Pennycook, T. J.; Suenaga, K.; Nicolosi, V.
Schierning, G.; Theissmann, R.; Acet, M.; Hoelzel, M.; Gruendmayer, J.; Zweck, J.
Irifune, T.; Shinmei, T.; McCammon, C. A.; Miyajima, N.; Rubie, D. C; Frost, D. J.
Yang, M.; Oró-Solé, J.; Kusmartseva, A.; Fuertes, A.; Attfield, J. P.
Cao, F.; Beyerlein, I. J.; Addessio, F. L.; Sencer, B. H.; Trujillo, C. P.; Cerreta, E. K.; Gray III, G. T.
Haensel, T.; Comouth, A.; Zydziak, N.; Bosch, E.; Kauffmann, A.; Pfitzer, J.; Krischok, S.; Schaefer, J. A.; Ahmed, S. I. U.
Tanaka, K.; Miwa, T.; Sasaki, K.; Kuroda, K.
Bernier, N.; Brosset, C.; Bocquet, F.; Tsitrone, E.; Saikaly, W.; Khodja, H.; Alimov, V. Kh.; Gunn, J. P.
Alexander, D. T. L.; Crozier, P. A.; Anderson, J. R.
Feldhoff, A.; Arnold, M.; Martynczuk, J.; Gesing, Th. M.; Wang, H.
Porcu, M.; Petford-Long, A. K.; Sykes, J. M.
Kuykendall, T.; Ulrich, P.; Aloni, S.; Yang, P.
Perera, D. S.; Cashion, J. D.; Blackford, M. G.; Zhang, Z.; Vance, E. R.
Tok, A. I. Y.; Boey, F. Y. C.; Zhao, X. L.
Gloter, A.; Zbinden, M.; Guyot, F.; Gaill, F.; Colliex, C.
Longo, D. M.; Howe, J. M.; Johnson, W. C.
DigitalMicrograph,或称为 Gatan Microscopy Suite,驱动您的电子相机和其他附件以支持一系列重要应用,包括断层扫描、原位、谱学和衍射成像等。
Guarantees high-resolution, low-distortion images for quantitative spatial measurements on your TEM.